Gebraucht BRUKER-AXS AXS D8 Discover #9285106 zu verkaufen

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ID: 9285106
Weinlese: 2012
X-Ray Diffraction (XRD) system Scope of supply D8_A01_2: D8 Discover D8_A02_F: Theta Long track Vertical, 8"-10" D8_A03_R, 10" Tube mount (2) DOF-ROOT Window D8_A04_1: With enclosure D8_A05_9: With cabinet 3 kW Generator Internal water Water cooling unit D8_A06_1: Power supply: 220 V / 230 V / 240 V 50/60 Hz D8_P27: Sealed Gobel Mirror Asymmetric Channel Cut monochromator module (GM-ACC) D8_B38: Rotary absorber for D8 (4) Positions Primary beam path mounting G Bel mirror housing T62: UMC 1516 Motorized XYZ-Phi-Chi drives 4" / 4" / 2" Unlimited turns Tilt: -5° to +55° Respectively (5) Ports of 4-axis D8 Theta and theta 2R: Motor driver board D8_T57: Diffracted beam slit assembly 2.5° Soller slit D8_S01: Pathfinder triple bounce Dual beam path analyzer module Height, 8" D8_S45: Dynamic scintillation detector Nal D8_D01: Ceramic tube KFL Cu 2K Long fine 2.2kW Cu SLD 450: Modification of UMC 1516, 6" / 6" / 2" Turns: -5° to +5° Tilt: -5° to +55° Respectively (5) D8 4-axis motor driver board 2R Theta / Theta DEL-PCPENT-STD-INT: D4 and D8 DIFFRACplus Measurement center diffractometer P100A100: DIFFRACplus Evaluation 7KP72008AR: DIFFRACplus LEPTOS H Miscellaneous: Detector mounting flange with slit reception D8_V40: Mount for UBC pin hole collimator (height, 8") D8_K08: Ni filter for Cu-K Radiation D8_B05: Plug In slit 6 mm (2) D8_B50: Plug In slit 2 mm (2) D8_B51: Plug in slit 1.5 mm (2) D8_B52: Plug In slit 1.2 mm D8_B53: Plug In slit 1 mm (3) D8_B54: Plug In slit 0.6 mm (3) D8_B56: Plug In slit 0.2 mm (3) D8_B58: Plug In slit 0.1 mm (2) D8_B59: Reference crystal for HRXRD D8_T37: H258 Long spacer optics D8_S27: H258 Spacer detector D8_S30: Riser for optics, 8"-10" D8_S46: Detector interface board D8_E01: 4-axes motor driver board (2) D8_E03: D8 Counter balances Tube and detector circle D8_V50: Diagonal slit C79298A3158B90: Short riser optics, 8"-10" (20) C79298A3244B159: Vario interlock, 8" A18B35 2012 vintage.
BRUKER-AXS AXS D8 Discover ist eine fortschrittliche Röntgenbeugungsanlage (XRD), die für die Untersuchung kristalliner Materialien entwickelt wurde. Das System basiert auf der Bruker D8 Advance-Plattform, die seit langem in der Forschung und in der Industrie zur Charakterisierung kristalliner Materialien eingesetzt wird. Das Gerät ist mit einem hochauflösenden zweidimensionalen Abbildungsdetektor und einem einfallenden optischen Monitor ausgestattet, um sowohl gebeugte Röntgenintensität als auch Probenorientierungsinformationen in einer einzigen Messung bereitzustellen. Die Maschine strahlt Röntgenstrahlen auf die Probe aus, die die kristalline Struktur beugt und ein Röntgenmuster erzeugt. Die Intensität dieses Musters hängt mit der Anzahl und Orientierung der Kristallite innerhalb der Probe zusammen. Dieses Muster kann dann zur Analyse der Struktur und Zusammensetzung der Probe verwendet werden. Mit dem Werkzeug können Materialien wie Metalle, Keramiken und Polymere charakterisiert werden. Das Asset ist automatisierbar und kann sowohl für Einzel- als auch für Mehrfachmessungen verwendet werden. Die Probe wird in einen Halter eingesetzt, der auf die Drehstufe aufgefahren und auf den einfallenden Röntgenstrahl ausgerichtet wird. Die Probe kann dann in mehrere Richtungen bewegt werden, um einzelne oder mehrere Messungen vorzunehmen. Das Modell ist auch mit einer motorisierten vertikalen Bühne für automatisierte Probenbewegungen ausgestattet. Die Software des Geräts wird mit einer Vielzahl von Analysetools geliefert, um den Benutzer bei der Datenerfassung und -interpretation zu unterstützen. Merkmale wie das Indexierungs- und Identifikationsprogramm helfen bei der Identifizierung des untersuchten Materials und der korrekten Indexierung des Röntgenmusters. Die Orientierungsverfeinerung kann helfen, kristalline Strukturparameter genau zu bestimmen, während ein Musteranpassungsprogramm Hilfe beim Vergleich von Mustern bieten kann. BRUKER-AXS D8 DISCOVER wurde entwickelt, um sowohl schnelle, wiederholbare Messungen zur routinemäßigen Qualitätskontrolle als auch detaillierte Analysen für Forschungs- und Entwicklungsanwendungen bereitzustellen. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und Flexibilität liefert das System hervorragende Ergebnisse und kann helfen, den Charakterisierungsprozess deutlich zu verbessern.
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