Gebraucht HITACHI / OXFORD X-Strata 920 #293755846 zu verkaufen
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ID: 293755846
Weinlese: 2014
XRF Analyzer
Prop counter
K-Beta filter
Spectrum calibration
X-Ray tube non-functional
PC
2014 vintage.
HITACHI/OXFORD X-Strata 920 ist ein modernes Röntgenfluoreszenz (XRF) Beschichtungsdickenmessgerät, das eine hochpräzise Analyse für eine Vielzahl von Anwendungen bietet. Dieses hochmoderne Instrument kombiniert OXFORD-Know-how in der analytischen Instrumentierung mit dem Ruf von HITACHI Instruments für hochwertige XRF-Technologie, um eine leistungsstarke Lösung für die Messung der Schichtdicke und -zusammensetzung zu liefern. OXFORD X-Strata 920 analysiert mittels Röntgenanregung die elementare Zusammensetzung und Dicke von Beschichtungen auf verschiedenen Substraten. Diese zerstörungsfreie Technik ist hocheffizient und liefert präzise Ergebnisse, ohne die Probe zu beschädigen. Das System ist mit einer Hochleistungsröntgenröhre und einem empfindlichen Detektor ausgestattet, der Spurenelemente detektieren und dünne Beschichtungen mit außergewöhnlicher Genauigkeit messen kann. Eines der Hauptmerkmale von HITACHI X-Strata 920 ist seine Vielseitigkeit. Die Einheit kann eine breite Palette von Probentypen analysieren, einschließlich Metalllegierungen, Kunststofffolien, galvanische Beschichtungen und Mehrschichtstrukturen. Diese Flexibilität macht es zu einem wertvollen Werkzeug für Branchen wie Elektronik, Automobil, Luft- und Raumfahrt und Metallveredelung, wo präzise Beschichtungsdickenmessungen für die Qualitätskontrolle und Prozessoptimierung unerlässlich sind. X-Strata 920 ist dank seiner intuitiven Software-Schnittstelle und automatisierten Messroutinen einfach zu bedienen. Bediener können das Instrument schnell einrichten, mit zertifizierten Referenzstandards kalibrieren und mit minimalem Training mit der Analyse von Proben beginnen. Die Maschine kann Messdaten für zukünftige Referenzen speichern und detaillierte Berichte erstellen, die den Industriestandards und -vorschriften entsprechen. In puncto Performance zeichnet sich HITACHI/OXFORD X-Strata 920 durch präzise und wiederholbare Ergebnisse aus. Die fortschrittlichen Algorithmen des Tools sorgen dafür, dass Messungen auch bei dünnen Beschichtungen und komplexen Schichtstrukturen präzise sind. Darüber hinaus bietet es eine hervorragende Empfindlichkeit und ermöglicht die Erkennung von Elementen bis hin zu Teilen pro Million. OXFORD X-Strata 920 kommt mit einer Reihe von optionalen Zubehör und Funktionen, um seine Funktionalität zu verbessern. Dazu gehören Optionen zur automatisierten Probenabwicklung, Echtzeitüberwachung von Beschichtungsprozessen und Integration mit branchenüblichen Softwareplattformen zur Datenanalyse und -berichterstattung. Die Anlage kann auch an spezifische Anwenderanforderungen und Anwendungen angepasst werden und ist somit eine vielseitige Lösung für eine Vielzahl von Anforderungen an die Dickenmessung der Beschichtung. Insgesamt ist HITACHI X-Strata 920 ein hochmodernes Röntgenmodell, das außergewöhnliche Leistung, Benutzerfreundlichkeit und Vielseitigkeit für Beschichtungsdickenmessanwendungen bietet. Die Kombination aus fortschrittlicher Technologie, Präzisionsmessfähigkeiten und benutzerfreundlichem Design macht es zu einem wertvollen Werkzeug für Industrien, die eine genaue und zuverlässige Analyse der Schichtdicke und -zusammensetzung benötigen.
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