Gebraucht HITACHI / OXFORD X-Strata 920 #293763261 zu verkaufen

HITACHI/OXFORD X-Strata 920 ist ein modernes Röntgenfluoreszenzgerät (XRF), das speziell für die Dünnschichtanalyse in einer Vielzahl von Branchen und Anwendungen entwickelt wurde. Dieses fortschrittliche Instrument kombiniert die ausgeklügelte Technologie von OXFORD mit der Expertise von HITACHI Instruments, um genaue, zuverlässige und leistungsstarke Dünnschichtanalysefunktionen bereitzustellen. Kernstück von OXFORD X-Strata 920 ist seine Röntgenanregungsquelle, die einen hochintensiven Röntgenstrahl erzeugt, der auf die untersuchte Probe fokussiert ist. Dieser Röntgenstrahl interagiert mit den Atomen in der Probe, wodurch sie charakteristische Röntgenfluoreszenzsignale abgeben, die vom System detektiert und analysiert werden. Durch die Messung der Energie und Intensität dieser Fluoreszenzsignale kann HITACHI X-Strata 920 die elementare Zusammensetzung und Dicke des dünnen Films mit außergewöhnlicher Präzision und Empfindlichkeit bestimmen. Eines der Hauptmerkmale von X-Strata 920 ist seine Vielseitigkeit und Flexibilität bei der Aufnahme einer Vielzahl von Mustertypen und -größen. Das Gerät ist in der Lage, Proben von Nanometer-dünnen Filmen bis hin zu dicken Mehrschichtstrukturen zu analysieren und eignet sich somit für eine Vielzahl von Anwendungen in Branchen wie Halbleiterherstellung, Werkstoffkunde, Elektronik und Beschichtungen. HITACHI/OXFORD X-Strata 920 ist mit fortschrittlicher Software ausgestattet, die eine automatisierte Datenerfassung und -analyse ermöglicht, die Produktivität und Effizienz im Labor erhöht. Die Software bietet benutzerfreundliche Schnittstellen für die Einrichtung von Experimenten, die Kalibrierung der Maschine und die Interpretation der Ergebnisse, so dass Bediener aller Qualifikationsstufen das Instrument effektiv nutzen können. Neben der präzisen Elementaranalyse bietet OXFORD X-Strata 920 erweiterte Dickenmessfunktionen, die es Anwendern ermöglichen, die Dicke einzelner Schichten in einer mehrschichtigen Probe genau zu messen. Diese Fähigkeit ist von unschätzbarem Wert für Qualitätskontrolle, Prozessoptimierung und Forschung und Entwicklung in Branchen, in denen die Dicke dünner Filme leistungskritisch ist. HITACHI X-Strata 920 ist mit Blick auf Robustheit und Zuverlässigkeit konzipiert und verfügt über eine robuste Konstruktion, die eine stabile Leistung über längere Einsatzzeiten gewährleistet. Das Tool ist auch mit fortschrittlichen Sicherheitsfunktionen ausgestattet, um Bediener vor Röntgenstrahlung zu schützen und eine sichere Arbeitsumgebung im Labor zu gewährleisten. Insgesamt stellt X-Strata 920 eine hochmoderne Lösung für Dünnschichtanalysen dar, die in einem kompakten und benutzerfreundlichen Paket beispiellose Genauigkeit, Empfindlichkeit und Vielseitigkeit bietet. Ob in der akademischen Forschung, industriellen Qualitätskontrolle oder Prozessentwicklung, HITACHI/OXFORD X-Strata 920 ist ein leistungsstarkes Werkzeug, das präzise und zuverlässige Ergebnisse für eine breite Palette von Dünnschichtanalyseanwendungen liefert.