Gebraucht HITACHI / OXFORD X-Supreme 8000 #293811474 zu verkaufen

ID: 293811474
Weinlese: 2013
Energy Dispersive X-Ray Fluorescence (EDXRF) system 2013 vintage.
HITACHI/OXFORD X-Supreme 8000 ist eine hochmoderne Röntgenausrüstung für fortschrittliche Materialanalyse und Qualitätskontrolle in einer Vielzahl von Branchen. Mit den neuesten technologischen Innovationen bietet dieses Instrument präzise und zuverlässige Messfähigkeiten für die Elementaranalyse, Kontaminationserkennung und Materialcharakterisierung. Im Zentrum von OXFORD X-Supreme 8000 steht die hochauflösende Röntgenröhre, die einen fokussierten Röntgenstrahl zur Anregung von Zielmaterialien erzeugt. Dieser Röntgenstrahl interagiert mit der Probe, wodurch die Atome innerhalb des Materials charakteristische Röntgenfluoreszenzsignale abgeben. Diese Signale werden dann von einem hochempfindlichen energiedispersiven Röntgendetektor detektiert, der die Intensität und Energie der emittierten Röntgenstrahlen aufzeichnet. Das System ist mit fortschrittlichen Signalverarbeitungsalgorithmen ausgestattet, die eine schnelle und genaue elementare Quantifizierung ermöglichen. Durch den Vergleich der Röntgenfluoreszenzsignale mit einer Datenbank bekannter Elementarsignaturen kann HITACHI X-Supreme 8000 das Vorhandensein verschiedener Elemente innerhalb der Probe identifizieren und quantifizieren. Diese Informationen werden in intuitiven und anpassbaren Berichten präsentiert, so dass Benutzer wertvolle Einblicke in die Zusammensetzung ihrer Materialien gewinnen können. X-Supreme 8000 bietet unübertroffene Vielseitigkeit mit der Fähigkeit, eine breite Palette von Mustertypen, Größen und Formen zu analysieren. Von festen Materialien bis hin zu Pulvern, Flüssigkeiten und dünnen Filmen kann diese Einheit verschiedene Probenmatrizen mit Leichtigkeit aufnehmen. Darüber hinaus verfügt das Instrument über eine motorisierte Probenstufe, die ein automatisiertes Scannen und Mapping größerer Proben ermöglicht und eine umfassende und repräsentative Elementaranalyse gewährleistet. In puncto Leistung zeichnet sich HITACHI/OXFORD X-Supreme 8000 durch Empfindlichkeit und Präzision aus. Mit fortschrittlicher Detektortechnologie und optimierten Messparametern kann die Maschine Erkennungsgrenzen bis hin zu Teilen pro Million für viele Elemente erreichen. Diese Empfindlichkeit ist insbesondere für Anwendungen von entscheidender Bedeutung, bei denen die Spurenelementanalyse wesentlich ist, wie in der Halbleiter-, Umwelt- und Pharmaindustrie. Darüber hinaus ist OXFORD X-Supreme 8000 für seine robuste Konstruktion und sein robustes Design bekannt und eignet sich daher gut für anspruchsvolle Industrieumgebungen. Das Werkzeug ist so gebaut, dass es kontinuierlichen Betrieb und häufigen Gebrauch standhält und eine langfristige Zuverlässigkeit und minimale Ausfallzeiten gewährleistet. Darüber hinaus ist das Instrument mit umfassenden Sicherheitsfunktionen ausgestattet, um sowohl den Benutzer als auch die Ausrüstung während des Betriebs zu schützen. Insgesamt stellt HITACHI X-Supreme 8000 eine hochmoderne Lösung zur zerstörungsfreien Elementaranalyse und Materialcharakterisierung dar. Mit seinen fortschrittlichen Fähigkeiten, beispielloser Empfindlichkeit und benutzerfreundlicher Oberfläche ist diese Röntgenanlage ein wertvolles Werkzeug für Forscher, Qualitätskontrollprofis und Analyselabors, die genaue und zuverlässige Ergebnisse in ihren Materialanalyse-Workflows erzielen möchten.
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