Gebraucht HITACHI X-Strata 920 #293810485 zu verkaufen

HITACHI X-Strata 920 ist eine fortschrittliche Röntgenausrüstung für Hochleistungs-Dünnschichtanalysen in einer Vielzahl von Anwendungen, von der Halbleiterherstellung bis zur Materialforschung. Dieses hochmoderne Instrument verfügt über modernste Technologie, um präzise und genaue Messungen der Dünnschichtzusammensetzung, Dicke und Struktur zu ermöglichen. Eines der Hauptmerkmale von X-Strata 920 ist seine hochauflösende Röntgenoptik, die eine detaillierte Analyse von dünnen Filmen im Nanometerbereich ermöglicht. Das System ist mit einer hochbrillanten Röntgenquelle ausgestattet, die eine optimale Anregung der Probe gewährleistet und die Empfindlichkeit der Analyse erhöht. Dies ist besonders wichtig für die Analyse komplexer Schichtstrukturen und ultradünner Filme, bei denen genaue Messungen für die Charakterisierung von Materialeigenschaften entscheidend sind. HITACHI X-Strata 920 ist zudem mit einer vielseitigen Probenstufe ausgestattet, die die Analyse unterschiedlichster Probengrößen und -formen ermöglicht. Das Gerät unterstützt sowohl manuelles als auch automatisiertes Probenladen und ermöglicht eine schnelle und effiziente Analyse mehrerer Proben in einem Lauf. Zusätzlich kann die Probenstufe gekippt und gedreht werden, um die Messgeometrie für verschiedene Dünnschichttypen zu optimieren und so zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse zu gewährleisten. Im Hinblick auf analytische Fähigkeiten bietet X-Strata 920 eine umfassende Palette von Messtechniken zur Charakterisierung dünner Filme. Die Maschine umfasst eine Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF), die eine elementare Zusammensetzungsanalyse mit hoher Empfindlichkeit und Präzision ermöglicht. Diese Technik eignet sich insbesondere zur Identifizierung von Verunreinigungen und Dotierstoffen in dünnen Folien sowie zur Messung der Dicke einzelner Schichten innerhalb eines mehrschichtigen Folienstapels. Darüber hinaus ist HITACHI X-Strata 920 mit Röntgenreflexions- (XRR) und Weideinzidenz-Röntgenbeugungsfähigkeiten (GIXRD) ausgestattet, die wertvolle Informationen über die Struktur und Morphologie dünner Filme liefern. XRR wird verwendet, um die Dichte und Dicke von dünnen Filmen zu messen, während GIXRD verwendet wird, um Kristallstruktur, Gitterparameter und Orientierung in dünnen Filmmaterialien zu analysieren. Diese Techniken ergänzen die XRF-Analyse und bieten einen umfassenden Ansatz zur Dünnschichtcharakterisierung. X-Strata 920 wird von intuitiver Software gesteuert, die eine benutzerfreundliche Oberfläche für die Einrichtung von Experimenten, die Erfassung von Daten und die Analyse von Ergebnissen bietet. Die Software ermöglicht anpassbare Messprotokolle, Datenverarbeitungsalgorithmen und Reporting-Tools, wodurch die Analyse einfach auf spezifische Forschungs- oder Fertigungsanforderungen zugeschnitten werden kann. Darüber hinaus ist das Tool mit fortschrittlichen Datenvisualisierungstools ausgestattet, die es Anwendern ermöglichen, die Ergebnisse klar und präzise zu interpretieren und zu visualisieren. Insgesamt ist HITACHI X-Strata 920 ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug für Dünnschichtanalysen, das erweiterte analytische Fähigkeiten, hohe Empfindlichkeit und präzise Messungen bietet. Ob in einem Forschungslabor, einer Qualitätskontrollumgebung oder einer Halbleiterherstellungsanlage, dieses Instrument bietet eine zuverlässige und genaue Charakterisierung von Dünnschichtmaterialien und hilft Forschern und Ingenieuren, Materialeigenschaften und Leistung zu optimieren.