Gebraucht PANALYTICAL XPert Pro #9108733 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom
![Loading](/img/loader.gif)
Verkauft
ID: 9108733
Weinlese: 2009
X-Ray Diffractometer
Goniometer : PW3050/65
MRD cradle : PW3060/20
Incident beam path
(1) X'Pert tube : PW3373/10 Cu LFF DK184330
(2) X-ray mirror : Inc. Beam Cu W/Si (hybird MRD)
(3) Monochromator : Inc. Beam 2xGe220 Cu Asym. (hybird)
Diffracted beam path
(1) Monochromator : Diffr. Beam Triple axis, 3xGe220 Cu Sym.
(2) Detector : PW3011/20 (Miniprop. large window)
2009 vintage.
PANALYTICAL XPert Pro ist ein leistungsstarkes Röntgendiffraktometer (XRD) für die hochauflösende Vollbereich-Röntgenbeugungsanalyse. Es ist in der Lage, hochauflösende Kristallographie, Phasenidentifikation, Kristallstrukturverfeinerung und quantitative Analyse von kristallinem Material bereitzustellen. Das System besteht aus einer gefilterten Röntgenquelle, einer Probenkammer, Röntgendetektor und zugehöriger Rechnersteuer- und Datenerfassungseinheit. PANALYTICAL X 'PERT PRO Maschine ist ein schlüsselfertiges Werkzeug, das sehr wenig Benutzerinteraktion erfordert und schnell und bequem bedient werden kann. Es ist kompakt und leicht ausgelegt, so dass es leicht von einem Instrument zum anderen zu bewegen ist und zur Vor-Ort-Bewertung mitgenommen werden kann. Die integrierte PC-basierte Zentrale von X-PERT PRO stellt schnell die Kommunikation mit dem XRD-Detektor her und ermöglicht Ihnen die volle Kontrolle über die Parameter des Asset. XPert Pro ist mit einer hochauflösenden Röntgenquelle ausgestattet, die intensive Röntgenimpulse erzeugt, die gefiltert werden, um extrem sensible Röntgenstudien zu ermöglichen. Die gefilterten Röntgenpulse werden dann der Probenkammer zugeführt, die die zu untersuchende Probe aufnimmt. Die Röntgenstrahlen interagieren mit der Probe und beugen, wodurch ein einzigartiges Muster erzeugt wird, das als Diffraktogramm bekannt ist und vom XRD-Detektor aufgezeichnet wird. X 'PERT PRO kann verwendet werden, um eine breite Palette von kristallinen Verbindungen wie Metalle, Keramik, Mineralien, Polymere und Halbleiter zu analysieren. Es ist mit einer fortschrittlichen Datenerfassungssoftware von PANALYTICAL ausgestattet, die verschiedene Berechnungs- und Datenquantifizierungswerkzeuge bietet. Dazu gehören die Quantifizierung von Kristallitgröße, Gitterparameterauswahl, Dehnungsmessung und Phasenidentifikation. Dank der schnellen Probenbearbeitungszeit von PANALYTICAL X-PERT PRO können innerhalb weniger Minuten Ergebnisse erzielt werden. PANALYTICAL XPert Pro ist ein wesentliches Werkzeug für eine Vielzahl von Branchen. Es hilft bei der Bestimmung von Kristallitgröße und Gittergeometrie sowie der Identifizierung von mineralischen Phasen. Es kann auch verwendet werden, um innere Defekte wie Risse und Kristallwachstum zu erkennen. PANALYTICAL X 'PERT PRO ist ein zuverlässiges und robustes XRD-Modell, das die Qualität und Genauigkeit der Ergebnisse aus kristallinen Materialien verbessert.
Es liegen noch keine Bewertungen vor