Gebraucht PHILIPS / PANALYTICAL Epsilon 5 #9229035 zu verkaufen

PHILIPS/PANALYTICAL Epsilon 5 ist ein Röntgengerät zur Diffraktometeranalyse. Mit der Diffraktometeranalyse können die Eigenschaften kristalliner Materialien wie Kristallstruktur, Phasenzusammensetzung und Gitterparameter untersucht werden. Das System besteht aus einer spezialisierten Röntgenquelle, einem Monochromator, einem Detektor und fortschrittlicher Software. Die Quelle von PHILIPS Epsilon 5 ist eine Reihe von Mikrospotquellen, die von 0,3 bis 5.0kV (Kilovolt) einstellbar sind und den Strom von 0,8 bis 10.0mA (Milliampere) begrenzen. Diese Quelle ist mit dem Monochromator der Einheit gekoppelt, der die Röntgenstrahlen weiter filtert. Der Typ und der Energiebereich des Monochromators können variiert werden, um die Absorption zu minimieren und die Intensität zu maximieren. Der Detektor der Maschine ist ein zweidimensionaler Bildplattendetektor. Diese hat eine aktive Fläche von 340 x 248 mm2 und kann auf Energien von 5-125kV eingestellt werden. Der Detektor ist mit der One Count Software des Tools verbunden, die die vollständige Integration verwaltet und die Zählungen in Spektren verarbeitet. Diese Software hilft auch bei der Verfolgung, Kalibrierung und Analyse der Daten. PANALYTICAL Epsilon 5 bietet enorme Flexibilität für eine Vielzahl von Anwendungen. Es kann zum Scannen von Pulverröntgen und Reflektivität sowie hochauflösenden Messungen verwendet werden. Dieses Gut kann auch zur Bewertung von Oberflächen und Materialien, zur Herstellung von Struktur-Eigenschaften-Beziehungen, zur Messung von Bindungslängen und -winkeln und zur Untersuchung von polykristallinen oder texturierten Proben verwendet werden. Insgesamt ist Epsilon 5 ein leistungsstarkes Röntgenmodell für die Diffraktometrieanalyse. Mit seiner einstellbaren Quelle, dem Monochromator, dem zweidimensionalen Bildplattendetektor und der intelligenten Software ist das Gerät in der Lage, die Eigenschaften kristalliner Materialien genau zu messen. Dieses System kann für eine Reihe von Anwendungen verwendet werden, wie das Scannen von Pulver-Röntgenstrahlen und Reflexionsvermögen, das Auswerten von Oberflächen und Materialien und das Herstellen von Struktur-Eigenschaften-Beziehungen.