Gebraucht SIEMENS / BRUKER D8 Discover #293757948 zu verkaufen

ID: 293757948
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2011
X-Ray diffraction system, 12" 2011 vintage.
SIEMENS/BRUKER D8 Discover ist ein hochauflösendes Röntgendiffraktometer zur Analyse der kristallinen Struktur von Feststoffen. Es liefert genaue und zuverlässige Daten über die Materialkristallinität für viele Materialien wie Polymere, Metalle und Halbleiter. BRUKER D8 Discover verwendet eine rotierende Anodenröhre und eine vertikale Probenstufe, um Röntgenstrahlung einer bestimmten Wellenlänge auf das Probenmaterial aufzubringen. Wenn der Röntgenstrahl durch das Material gebeugt wird, werden die Winkel und Größen der gebeugten Strahlen gemessen. Aus diesen Daten wird dann das Beugungsmuster der Probe berechnet, das Ort, Intensität und Breite der Spitzen im Beugungsmuster, dem sogenannten Diffraktogramm, anzeigt. Dieses Diffraktogramm wird dann verwendet, um die Kristallinität der Probe abzubilden und ihren Kristallinitätsgrad abzuschätzen. SIEMENS D8 Discover bietet dank seiner Hochgeschwindigkeitsmessung und Datenerfassung eine schnelle und zuverlässige Analyse von Probenmaterialien. Das Gerät verfügt über ein modernes optisches System, das es ermöglicht, Proben mit viel größerer Auflösung als frühere Diffraktometer zu messen. Darüber hinaus ist die erweiterte Optikeinheit mit einer verbesserten Detektormaschine gekoppelt, die den Dynamikbereich des Werkzeugs vergrößert und dessen Genauigkeit verbessert. Weitere Merkmale der Anlage sind automatische Musterwechsler und benutzerfreundliche Software, die es Wissenschaftlern ermöglicht, genaue Diffraktogramme mit nur wenigen Klicks zu erzeugen. D8 Discover bietet Forschern die Werkzeuge, die sie benötigen, um schnell und genau zuverlässige Daten über die Kristallinität einer Probe zu erhalten. Dadurch können sie fundiertere Entscheidungen über die Eigenschaften und Anwendungen ihrer Materialien treffen. Darüber hinaus machen die hohe Geschwindigkeit und Genauigkeit des Modells es ideal für die Forschung in der Materialwissenschaft und anderen Bereichen, die genaue Daten über die Materialkristallinität erfordern.
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