Gebraucht SIEMENS / BRUKER D8 Discover #293813892 zu verkaufen
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ID: 293813892
X-Ray Diffraction (XRD) system
(2) Microfocus X-Ray sources including Molybdenum (Mo) and Copper (Cu) radiation
IμS Microfocus sources: Mo 0.71 ∠st;, Cu 1.54 ∠st;
Four-Circle Kappa geometry
Angular precision: 7 μm sphere of confusion
Photon 100 Detector
Detector distance range: 35 mm to 239 mm
Sample temperature:
Oxford Cryostream cooling system
Oxford N-Helix cooling system.
SIEMENS/BRUKER D8 Discover ist eine hochmoderne Röntgenbeugungsanlage (XRD), die für fortschrittliche Materialforschung und -analyse entwickelt wurde. Dieses anspruchsvolle Instrument ist das Ergebnis einer Zusammenarbeit zwischen BRUKER und SIEMENS, zwei renommierten Unternehmen im Bereich analytischer Instrumente, und stellt den Höhepunkt der XRD-Technologie dar. Herzstück des BRUKER D8 Discover Systems ist seine leistungsstarke Röntgenquelle, die hochintensive Röntgenstrahlen für Beugungsexperimente erzeugt. Das Gerät ist mit einem hochmodernen rotierenden Anodenröntgengenerator ausgestattet, der hochfokussierte und monochromatische Röntgenstrahlen mit außergewöhnlicher Intensität und Stabilität erzeugen kann. Dies ermöglicht eine präzise und genaue Analyse kristalliner Materialien, von Pulvern bis zu dünnen Filmen und Einkristallen. SIEMENS D8 Discover Maschine verfügt über ein vielseitiges Goniometer-Design, das eine breite Palette von Probenorientierungen und Messkonfigurationen ermöglicht. Diese Flexibilität ist unerlässlich, um verschiedenen Probengeometrien und experimentellen Anforderungen gerecht zu werden und das Werkzeug für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen geeignet zu machen. Das Asset umfasst auch erweiterte Beispielverarbeitungsfunktionen, einschließlich automatisiertes Laden und Positionieren von Beispielen, um die Datenerfassung zu optimieren und die Produktivität zu maximieren. Eine der Hauptstärken des D8 Discover-Modells ist seine fortschrittliche Detektionsausrüstung, die für die Erfassung der gebeugten Röntgensignale mit hoher Empfindlichkeit und Auflösung unerlässlich ist. Das System verfügt über ein ausgeklügeltes Detektorarray bestehend aus mehreren Detektoren, wie Szintillationsdetektoren und Festkörperdetektoren, optimiert für unterschiedliche Messbedingungen und Probentypen. Dieses Multi-Detektor-Setup sorgt für optimale Datenqualität und ermöglicht eine effiziente Datenerfassung über eine Vielzahl von experimentellen Parametern hinweg. Neben seinen leistungsstarken Hardwarekomponenten wird SIEMENS/BRUKER D8 Discover durch umfassende Softwarepakete unterstützt, die speziell für die XRD-Datenanalyse und -visualisierung entwickelt wurden. Die Software-Oberfläche der Maschine bietet intuitive Bedienelemente zum Einrichten von Experimenten, zum Sammeln von Daten und zum Analysieren von Ergebnissen, wodurch sie sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Forscher benutzerfreundlich ist. Die Software umfasst auch fortgeschrittene Datenverarbeitungsalgorithmen zur Peakidentifikation, Phasenidentifikation und Kristallstrukturverfeinerung, die eine tiefgreifende Materialcharakterisierung und Eigenschaftsauswertung ermöglichen. Insgesamt stellt das BRUKER D8 Discover Röntgenwerkzeug einen Durchbruch in der XRD-Technologie dar und bietet unübertroffene Leistung, Vielseitigkeit und Benutzerfreundlichkeit für die Materialforschung und -analyse. Die Kombination aus modernsten Hardwarekomponenten, erweiterten Erkennungsfähigkeiten und intuitiver Software-Oberfläche machen es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Wissenschaftler und Forscher, die in einer Vielzahl von Bereichen arbeiten, darunter Nanotechnologie, Festkörperphysik, Chemie und Materialwissenschaft. SIEMENS D8 Discover ist mit seinen überlegenen Fähigkeiten und seinem innovativen Design bestrebt, neue Entdeckungen und Fortschritte in der Materialforschung für die kommenden Jahre voranzutreiben.
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