Gebraucht SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SFT-3200 #9244280 zu verkaufen

ID: 9244280
XRF Coating thickness system.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT-3200 ist ein Hochdruck-Röntgengerät, das entwickelt wurde, um eine hochgenaue Abbildung von verpackten elektronischen Komponenten ohne Zerstörung oder Beschädigung zu ermöglichen. Das System ist in der Lage, hochauflösende 3D-Bilder zu erzeugen, die eine schnelle und präzise Visualisierung der internen Struktur und des Layouts der Komponenten ermöglichen. Das Gerät ist sowohl für die Inspektion von alten als auch neuen elektronischen Komponenten konzipiert und mit einer Vielzahl von Prozessen und Substraten kompatibel. SEIKO SFT-3200 verwendet Hochdruck-Röntgentechnologie, um Bilder mit Mikron-Genauigkeit zu erfassen. Die Röntgenquelle ist eine keramische Anodenscheibe aus Molybdän, die dann mit einer Gaspistole auf das Zielobjekt zugetrieben wird. Dadurch wird eine sehr kurze Belichtungszeit von bis zu 5 Millisekunden gewährleistet, wobei die Gefahr einer Verzerrung durch Hitze und Störung verringert wird. Der Abbildungsabstand der Maschine ist von 0 bis 5 mm einstellbar und ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung ohne Beschädigung. SII NANOTECHNOLOGY SFT 3200 enthält eine Reihe fortschrittlicher Sicherheitsfunktionen zum Schutz des Bedieners, einschließlich einer mechanischen Verriegelung, einer Nothaltetaste und einer Handshaking-Verriegelung. Die Anlage ist mit einem isolierten Hochspannungsnetzteil, einem hochempfindlichen EHT-Detektor und einem isolierten Kühlmodell ausgestattet. Das Gerät umfasst außerdem eine Touch-Panel-Steuerung und eine grafische Benutzeroberfläche für eine schnelle und einfache Bedienung sowie eine Autofokus-Erkennung, ein automatisches Kalibriersystem und eine Kantenerkennungseinheit. SEIKO SFT 3200 verfügt über eine hochpräzise Analysenroutine, die das Bild auswertet, um eine zuverlässige Genauigkeit zu gewährleisten. Die Maschine kann eine beliebige Anzahl von Funktionen im Bild analysieren, z. B. Formgröße, Paketgröße, Lötverbindungen, Drahtgröße, Lötmaskeneigenschaften und andere Elemente für die Präzisionsanalyse. Die integrierte Software des Tools ermöglicht es dem Benutzer, die Bildergebnisse für zukünftige Referenzen zu analysieren, zu überprüfen und zu speichern sowie Daten vor und nach der Analyse zu vergleichen. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT 3200 kann verwendet werden, um Objekte bis zu einer maximalen Größe von 10mm x 10mm zu überprüfen, einschließlich Präzisionskomponenten, Steckverbindern und Verpackungen. Die Anlage eignet sich ideal für hochpräzise Abbildungen von Leiterplatten und anderen Elektronikkomponenten sowie für verschiedene Forschungs-, Entwicklungs-, Validierungs- und Inspektionsanwendungen. Seine erweiterten Bildgebungs- und Erkennungsfunktionen machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für die Elektronikfertigung und Komponentendiagnose.
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