Gebraucht ADVANTEST T 5375 #162944 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
ID: 162944
Memory test system
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 16
SIZE OF FMRA BOARD [0:0G,1:1.44G,2:2.88G] ..........> 1
TYPE OF CFM [1:TYPE-1,2:TYPE-2] .............> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G] .....................> 1
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO.
ADVANTEST T 5375 ist ein integriertes Endtestgerät, das von der ADVANTEST Corporation, dem weltweit führenden Anbieter von Halbleitertestlösungen, entwickelt wurde. Das System basiert auf der neuesten Silicon Test Platform (SIP) Technologie und bietet eine flexible und kostengünstige Fähigkeit für eine Vielzahl von Testanforderungen für verschiedene Mikroprozessoren, Speicher- und Logikgeräte. ADVANTEST T5375 umfasst einen Großrechner und eine Reihe von Patronen, die die Flexibilität bieten, eine breite Palette von Geräten zu unterstützen. Der Mainframe besteht aus zwei Host-Computersystemen, darunter eine Windows-basierte GUI-Einheit und eine PXI-basierte verteilte Instrumentierungsmaschine. Dies ermöglicht die Kontrolle aller Testaktivitäten auf Host-Ebene, einschließlich Konfiguration und Datenerfassung. Darüber hinaus verfügt T 5375 über mehrere integrierte Testschnittstellen, die Hochgeschwindigkeits-, Niederspannungs- und Standardtests sowie Burn-In-Aufgaben unterstützen. T5375 Tool verwendet eine Reihe verschiedener Testinstrumente und -technologien. Das Asset verfügt über einen integrierten Modelltest, der eine umfassende Fehlerabdeckung bietet. Die Testausrüstung basiert auf der SIP-Architektur, die optimiert ist, um die Prüfung von Hochpin-Zählgeräten zu unterstützen. Dazu gehören Niederspannungstests, eine Reihe von Burn-in-Tests, Sonden und Zubehör. Das System kann programmiert werden, um mehrere Arten von Tests wie Hochspannungsprüfung, Taktquelle, Pad programmierbare und proprietäre Tests durchzuführen. Die Einheit enthält eine Reihe von zusätzlichen Funktionen wie ein programmierbares Oszilloskop für Debugging-Zwecke. Darüber hinaus verfügt ADVANTEST T 5375 über eine integrierte Datenerfassung und -analyse, die es Anwendern ermöglicht, Testdaten in Echtzeit zu erzeugen und zu analysieren. Auf diese Weise können Benutzer die Ursachen für fehlerhafte und marginale Geräteleistungen schnell und präzise identifizieren, was dazu beiträgt, die Anzahl unnötiger Reparaturen zu reduzieren und die Felderträge zu verbessern. ADVANTEST T5375 ist eine fortschrittliche Testlösung für eine Vielzahl von Mikroprozessoren, Speichern und Logikgeräten. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und integrierten Test- und Debugging-Funktionen auf Maschinenebene ist es eine leistungsstarke und kostengünstige Lösung für jeden Bedarf an Halbleitertests.
Es liegen noch keine Bewertungen vor