Gebraucht ADVANTEST T 5375 #9158916 zu verkaufen
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ID: 9158916
Weinlese: 2005
Tester
Number of test head: 1
Configuration of test head
Pin configuration
512DR+ 320I / O (quarter)
1024DR+ 640I /O (half)
2048DR+1280I /O (full): 3
Type of DR PE [1:DR PE, 2:24Ch HVDR PE]: 1
Configuration of test head:
PE Board
Not exist
Exist
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B 1 1 1 1
CHILD C,D 1 1 1 1
CHILD E,F 1 1 1 1
CHILD G,H 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B 1 1 1 1
CHILD C,D 1 1 1 1
CHILD E,F 1 1 1 1
CHILD G,H 1 1 1 1
P-1
Configuration of DPU:
Test head 1 DC configuration [1-64]: 1-64
PPS Configuration [1-256]: 1-256
AC Frequency (Hz) [50,60]: 50
Configuration of FTU
Flash option [Y,N]: No
Configuration of FM:
Number of FMRA board [0-16]: 0
Size of FMRA board [1:8G, 2:16G]: 0
PM (pattern memory) board exist [Y,N]: No
Configuration of MRA:
MRA4 Exist [Y,N]: No
2005 vintage.
Die ADVANTEST T 5375 ist eine Endprüfeinrichtung, die für die Hochgeschwindigkeitsprüfung komplexer Halbleiterbauelemente mit hoher Pin-Anzahl ausgelegt ist. Das System wurde entwickelt, um die Erträge zu steigern und die Kosten durch die Kombination fortschrittlicher Technologien zu senken, die es ermöglichen, Hochgeschwindigkeitstests mit hohem Volumen zu erzielen. Herzstück des Geräts ist der Smart-SASS-Tester, der hochauflösende Testfunktionen über einen weiten Bereich von Temperatur- und Spannungsbereichen bietet. Es verfügt auch über eine schnell wachsende Bibliothek von Sondierungslösungen, die aufgrund ihrer überlegenen mechanischen Stabilität und Genauigkeit ausgewählt werden. Die Maschine wird von einer leistungsstarken, intuitiven, einfach zu bedienenden Windows-basierten Software-Suite gesteuert, die einen zentralen Punkt für die Entwicklung, Debug und Speicherung von Gerätetestprogrammen bietet. Es bietet auch eine Schnittstelle zur Steuerung des Betriebs des Smart-SASS-Testers und anderer Komponenten des Werkzeugs. ADVANTEST T5375 bietet Unterstützung für komplexe DFT-Kennzeichnungsschemata und leicht rekonfigurierbare Teststrukturen, so dass es ideal für die Arbeit mit High-Pin-Count-Geräten ist. Darüber hinaus bietet die Anlage Unterstützung für Hochgeschwindigkeitssondierung und -kalibrierung, die eine schnelle Identifizierung und Korrektur defekter Geräte in Serienumgebungen ermöglicht. Das Modell nutzt eine Reihe zusätzlicher Technologien, die seine Testfunktionen verbessern. Dazu gehört auch ein High-Speed-Taktgenerator, der sicherstellt, dass Gerätezuschnitte bei sehr hohen Geschwindigkeiten für die Serienfertigung getestet werden können; ein Bildschirmreferenzgitter, das für parametrische Tests auf Waferebene verwendet wird; und On-Wafer-Sonde, die die Testgenauigkeit durch genaue Lokalisierung von Gerätelücken für die Prüfung erhöht. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein eingebautes Temperatursimulationsset, das eine Vielzahl von Temperaturbedingungen simuliert und eine genauere Darstellung der Leistung in der realen Welt bietet. Insgesamt ist T 5375 eine leistungsstarke, kostengünstige Testlösung, die hochvolumige, hochgenaue Tests von Halbleiterbauelementen bietet. Durch die Kombination fortschrittlicher Technologien mit einer Reihe von Testunterstützungsfunktionen trägt das System dazu bei, Kosten zu senken und den Ertrag zu steigern und gleichzeitig die höchsten Standards an Genauigkeit und Zuverlässigkeit zu erfüllen.
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