Gebraucht ADVANTEST T 5375 #9166525 zu verkaufen

ADVANTEST T 5375
Hersteller
ADVANTEST
Modell
T 5375
ID: 9166525
Weinlese: 2002
Memory tester Single head Configuration of test head Pin configuration 512DR+ 320I/O(QUARTER) 1024DR+ 640I/O(HALF) 1536DR+ 640I/O(FULL) 2048DR+ 640I/O(FULL) 1536DR+1280I/O(FULL) 2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6 NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1 CONFIGURATION OF TEST HEAD 1 PE BOARD 0.NOT EXIST 1. EXIST DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 CHILD E,F ....> 1 1 1 1 CHILD G,H ....> 1 1 1 1 IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 CHILD E,F ....> 1 1 1 1 CHILD G,H ....> 1 1 1 1 CONFIGURATION OF DPU TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64 PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256 AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50 CONFIGURATION OF FTU FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO CONFIGURATION OF FM NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0 PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> No SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G,3:4G,4:9G] ...........> 1 CONFIGURATION OF MRA MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO 2002 vintag
ADVANTEST T 5375 ist ein Final Test Equipment, das im Chip-Produktionsprozess verwendet wird, um sicherzustellen, dass abgeschlossene Chips funktional sind und die Anforderungen des Kunden erfüllen. Es wird in großflächigen Wafer-Probern verwendet, wo eine riesige Menge an Chips in kurzen Zeitrahmen getestet werden können. Das System verfügt über leistungsstarke und vielseitige Testfunktionen, die eine einfache Prüfung von Hochvolumen-Speichergeräten wie SRAMs, DRAMs und Flash ermöglichen. ADVANTEST T5375 umfasst eine verbesserte Teststeuerungsarchitektur, Testzugriffssysteme für zuverlässigere Programme und automatisierte Testmustererzeugungsfunktionen. Es kann auch Ergebnisanalysefunktionen umfassen, um Testergebnisse auf verschiedene Probleme auszuwerten. Die einfach zu erlernende Oberfläche ermöglicht eine schnelle Übernahme und ermöglicht es Ingenieuren, wertvolle Testdaten zu gewinnen, die zur Verfeinerung und Optimierung des Testprozesses verwendet werden können. T 5375 ist mit leistungsstarken Hardwarefunktionen ausgestattet, um eine Vielzahl von Testanforderungen zu erfüllen. Das Gerät enthält eine High-Speed No-Wait Time (NWT) Mezzanine-Karte mit einer 8-kanaligen 64-Bit Open-MCTest-Schnittstelle für schnellen parallelen Zugriff auf mehrere Chips und die Advanced Hardware Trigger (AHT) -Maschine, die die On-Wafer-Testzeit beschleunigt. Es verwendet auch erweiterte Speicherkarten-Architektur, die erweiterte DSP-Karten, 603PPC Field-Programmable Gate Array (FPGA) für die Steuereinheit und eine SRAM-Geräteschnittstelle für alle Speichergeräte umfasst. T5375 verwendet auch hochpräzise lineare Positionierungstechnologie, um eine genaue Positionskontrolle während des Testprozesses zu ermöglichen. Diese Technologie ermöglicht eine präzise Ausrichtung und Positionierung von Sonden, um eine zuverlässige Waferausrichtung zu gewährleisten. Darüber hinaus lässt sich ADVANTEST T 5375 einfach programmieren, um Prozessvariationen zu verwalten und präzise Testergebnisse mit minimaler Variabilität für eine Vielzahl von Produkten und Prozessen zu liefern. Darüber hinaus beinhaltet ADVANTEST T5375 umfassende Testumgebungs-Management-Funktionen, einschließlich Echtzeit-JTAG-Unterstützung für die einfache Handhabung von Test-Set-ups und Programmierung. Die Testumgebung ist außerdem mit automatisierter Test-Parameter-Prüfung und Test-Ergebnis-basierter Parameter-Abstimmung ausgestattet, um sicherzustellen, dass jeder Chip mit denselben Parametern getestet wird. T 5375 kann Tests an mehreren Proben gleichzeitig durchführen und bietet maximalen Durchsatz und Produktivität. Insgesamt ist T5375 ein leistungsfähiges und zuverlässiges Final Test Tool, um korrekte Testergebnisse sicherzustellen und zu validieren, dass jeder Chip den Kundenanforderungen entspricht. Sein vielseitiger Funktionsumfang und seine erweiterten Funktionen ermöglichen es Chipherstellern, Geschwindigkeit, Effizienz und Testgenauigkeit zu maximieren. Es ist die perfekte Lösung für die Lieferung von Qualitätsprodukten auf dem heutigen hart umkämpften Markt.
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