Gebraucht ADVANTEST T 5375 #9181104 zu verkaufen
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ID: 9181104
Memory tester
/DIAG/G
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 0
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 0
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO
END SAVE.
Die ADVANTEST T 5375 ist eine leistungsstarke Endprüfeinrichtung, die für den Einsatz bei der Herstellung anspruchsvoller Halbleiterbauelemente ausgelegt ist. Dieses System ist in der Lage, umfassende Tests von verpackten und blanken integrierten Schaltkreisen mit seinem Multi-Site-automatischen Handler, Tester und Thermoschock-Kammer durchzuführen. ADVANTEST T5375 unterstützt die volle Testfähigkeit von digitalen, gemischten und analogen Testformaten in einer Einheit. Die vollen digitalen Vektor-Testfunktionen werden durch eine programmierbare Vektor-Schritt-Speichereinheit bereitgestellt, die JTAG, IEEE 1149.1 und IEEE 1149.6 Protokolle unterstützt. Die Mixed-Signal-Fähigkeiten werden von einem Analog/Mixed-Signal-Tester mit einer exklusiven dynamischen parametrischen Testmaschine bereitgestellt, die analoge und digitale Tests mit hoher Geschwindigkeit ermöglicht. Das Tool unterstützt auch die In-Asset-Programmierung und die Leistungsüberprüfung. T 5375 bietet eine benutzerfreundliche grafische Bedienoberfläche mit einer Vielzahl automatisierter Testfunktionen. Diese Schnittstelle ermöglicht eine nahtlose Integration in die Fertigungslinie des Kunden und externe Datenbanksysteme wie Prozesssteuerung oder Diagnosesysteme. Es unterstützt flexible Testplanung, vollständige Parametrierung, mehrere Testprogramme, Datenprotokollierung, Echtzeit-Reporting und -Trending, anpassbare Datenpräsentation und -berichterstattung sowie eine breite Palette von Parameterrückrufen. T5375 ist auch mit einem Multi-Site-automatischen Handler ausgestattet, um mehrere Konfigurationen von Geräten, die getestet werden, schnell einzurichten und zu verarbeiten. Dieser Handler ist in der Lage, blanke Matrizen bis zu einer Größe von 3,2 mm mit bis zu 160 Geräten pro Tablett zu handhaben. Es unterstützt auch hochpräzise Montage- und Montagevorgänge bei der Handhabung von Chips, Rahmen, Platten und Vorrichtungen. Die ADVANTEST T 5375 verfügt außerdem über eine automatisierte Thermoschockkammer, die eine Prüfung von Geräten über einen weiten Temperaturbereich ermöglicht. Die Kammer verfügt über eine erweiterte Multiprogrammierbarkeit, die es ermöglicht, Testläufe von bis zu 32 Tests zu programmieren und für einen einfachen Abruf zu speichern. Diese Funktion ermöglicht eine schnelle und robuste Leistungsprüfung von ICs für den Einsatz in Automobil-, Medizin-, Luft- und Raumfahrt- und anderen extremen Temperaturumgebungen. Insgesamt bietet ADVANTEST T5375 eine umfassende, automatisierte Lösung für die Prüfung integrierter Schaltungen und ist damit eine attraktive Option für Unternehmen, die umfangreiche Tests benötigen. Mit seiner umfangreichen Merkmalsliste ist dieses abschließende Testmodell eine ideale Wahl für die Herstellung von Halbleiterbauelementen.
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