Gebraucht ADVANTEST T 5375 #9262805 zu verkaufen
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ID: 9262805
Memory tester
With test head
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION
1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
TYPE OF DR PE [1:DR PE, 2:24CH HVDR PE] .............> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD
0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO.
ADVANTEST T 5375 Final Test Equipment ist ein zuverlässiges und effizientes Testsystem, das zur Inspektion und Verifizierung von integrierten Schaltungen, Leiterplattengeräten und allen Komponenten verwendet wird, die eine Prüfung erfordern. Es verfügt über eine breite Palette von Optionen für hochpräzise und schnelle Leistung. Die Testeinheit bietet eine modulare Plattform für schnelle, flexible und genaue Gerätetests. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Technologien wie Small Outline Transistors (SOI), Ball Grid Array (BGA) und Multi-Level Chip Scale Packaging (MLCCS) zu testen. Es verfügt auch über eine komplette Suite von Diagnoseprogrammen und automatisierten Testfunktionen. ADVANTEST T5375 wird mit einem schnelllaufenden universalen Schnittstellenprotokoll (UIP) gebaut, das ihm ermöglicht, mit einer Vielfalt der Außenausrüstung wie Automatic Test Equipment (ATE), Ausrüstung der Prüfung im Stromkreis (ICT) und integrierte Entwicklungsplattformen zu verbinden. Es bietet auch anpassbare Sonden für die Leistungsoptimierung. Seine flexible Umgebung unterstützt Automatisierung und Anpassung sowohl für Hardware-in-the-Loop (HIL) als auch für Software-in-the-Loop (SIL) Tests. Der Impedanzmodus von Thetestern bietet fortschrittliche funktionale und elektrische Tests von integrierten Schaltungen. Dies ermöglicht die Flexibilität, die Frequenz, die Sweep-Zeit, den Testvektor und die Spannungseinstellungen der Sonden anzupassen. Der Automatic Test Pattern Generator (ATPG) ermöglicht die Generierung von benutzerdefinierten Testmustern, die leicht in die Maschine geladen werden können, um die Fehlerbehebung auf Blackbox-Ebene zu verbessern. T 5375 enthält ein flexibles Kalibrierwerkzeug, das auf mechanische Wiederholbarkeit und Genauigkeit ausgelegt ist. Mit dem Kalibrierelement können die Parameter der verschiedenen Testeinstellungen angepasst werden. Es hilft sicherzustellen, dass die Tester präzise Ergebnisse für alle Geräte liefern, die getestet werden. T5375 ist mit überlegenen Sicherheitsmaßnahmen wie schwimmender Stromversorgung, Schutzzubehör, Temperaturkonturen und anderen Schutzmaßnahmen zum Schutz vor Überspannung und Stromstößen ausgelegt. ADVANTEST T 5375 ist ideal für Modellsimulationen und Funktionstests in Anwendungen wie Automotive, Mobile Devices, Unterhaltungselektronik, Industrial und anderen sehr anspruchsvollen Anwendungsbereichen. Es kombiniert Hochgeschwindigkeitsleistung mit Präzision und Genauigkeit für zuverlässige Gerätetests. Als effiziente und kostengünstige Testausrüstung wurde ADVANTEST T5375 von Herstellern und Ingenieuren für eine Reihe unterschiedlicher Testanwendungen weit verbreitet.
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