Gebraucht ADVANTEST T 5375 #9277246 zu verkaufen
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ID: 9277246
Dual head tester
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1 -6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1
CHILD C,D ....> 1
CHILD E,F ....> 1
CHILD G,H ....> 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B . ...> 1
CHILD C,D ....> 1
CHILD E,F ....> 1
CHILD G,H ....> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD 0.NOT EXI ST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1
CHILD C,D ....> 1
CHILD E,F ....> 1
CHILD G,H ....> 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1
CHILD C,D ....> 1
CHILD E ,F ....> 1
CHILD G,H ....> 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [-64] ...........> 1 -64
PPS CONFIGURATION [1 -256] ..........> 1 -256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1 -64] ...........> 1 -64
PPS CONFIGURATION [1 -256] ..........> 1 -256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0 -16 ] ..........................> 8
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EX IST [Y,N] .................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO
END SAVE.
ADVANTEST T 5375 ist eine leistungsfähige Endprüfanlage, die für die Prüfung einer Vielzahl elektronischer Komponenten ausgelegt ist. Es kann zur Durchführung umfassender Tests an einzelnen Komponenten sowie an Baugruppen oder Modulen verwendet werden. Das System besteht aus mehreren Instrumenten, darunter Hochgeschwindigkeits-Digitaloszilloskope, Wafer-Prober und Massenterminalstationen. Das digitale Oszilloskop des Geräts ist für dynamische parametrische Tests mit einer Bandbreite von bis zu 500 MHz ausgelegt. Es wird mit einer Hochleistungsdatenerfassungseinheit mit dem direkten Speicherzugang verbunden, der sicherstellt, dass keine Daten während der Prüfung verloren werden. Die Maschine kann unter anderem eine Vielzahl von Messungen wie Frequenz, Zeitintervall, rechteckiges Signal, Pegeleinstellung und Impulsantwort durchführen. Die VORTEILHAFTE T5375 ist mit Waferprobern verbunden, die eine automatisierte Prüfung von Halbleiterbauelementen auf ihren Wafern ermöglichen. Mit diesem Tool können Benutzer Messungen an bestimmten Werkzeugpositionen durchführen oder über Gerätegrenzen hinweg messen. Die Anlage ist zudem mit Massenterminalstationen ausgestattet, die eine X-Y-Antriebsbasis und eine Z-Achsen-Antriebsstufe für Präzision umfassen. Dies ermöglicht eine hohe Genauigkeit bei Messungen an verpackten DUTs. Das Modell beinhaltet eine speziell für den Einsatz entwickelte Software, die die volle Kontrolle über die Geräte sowie die damit verbundenen Instrumente ermöglicht. Es verfügt über verschiedene Fähigkeiten, die auf bestimmte Testanforderungen zugeschnitten sind, wie Testaufbau, Gerätehandhabung und Ergebnisanalyse. Darüber hinaus ist diese Software sehr flexibel, so dass Benutzer es nach ihren eigenen Spezifikationen für verschiedene Arten von Testprojekten anpassen. T 5375 erfüllt eine Vielzahl von Prüfanforderungen und ist damit eine umfassende Lösung für die Endprüfung. Es kombiniert fortschrittliche Hardware und Software, so dass Benutzer präzise Messungen und Datenerfassung durchführen können. Es ist ein zuverlässiges und effizientes System zur Validierung der Integrität und Funktionsweise einer Vielzahl von elektronischen Komponenten.
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