Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS Operator console for SemVision #293655580 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS Bedienerkonsole für SemVision ist eine vielseitige, einfach zu bedienende Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die eine leistungsstarke Palette von Werkzeugen zur schnellen und genauen Erkennung von Defekten bietet. Die Konsole ermöglicht es Benutzern, kritische Fehler zu identifizieren, die sich auf die Funktionsweise und die Erträge von Wafern auswirken könnten. Es bietet einen automatisierten Prozess zum schnellen Ausführen und Analysieren von Sichtfeldern, Optimieren von Bildparametern, um die beste Bildqualität zu erhalten. Darüber hinaus bietet es erweiterte Fehlererkennungsalgorithmen, um ertragsbegrenzende Fehler zu isolieren. AMAT Operator Console für SemVision ist für den Einsatz in Produktions- und Forschungs- und Entwicklungslabors konzipiert. Es wurde entwickelt, um die Anforderungen der fortgeschrittenen Ingenieure zu erfüllen und die neuesten Fehlererkennungsfunktionen bereitzustellen. Die Konsole ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, um Anwendern zu helfen, Fehler schnell und genau zu erkennen. Dazu gehören automatisierte Probenmontage und -ausrichtung, optimierte Bildgebung, automatische LED-Beleuchtung und automatisierte Fehlerisolierung durch Mustererkennungsalgorithmen. Die Konsole verfügt über eine interaktive und benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche, die leicht zu erlernen und zu bedienen ist. Es ermöglicht eine schnelle Einrichtung des Systems, um eine optimale Leistung mit jeder Anwendung zu gewährleisten. Eine breite Palette von Anpassungsmöglichkeiten macht es einfach, das Gerät an die spezifischen Bedürfnisse des Benutzers anzupassen. Die Konsole enthält auch eine Bibliothek mit voreingestellten Bildgebungsparametern, die die schnelle Konfiguration des Computers für eine bestimmte Aufgabe vereinfachen. Das Werkzeug unterstützt eine Vielzahl von Masken- und Wafermaterialien und eine breite Palette von Fehlertypen. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von nicht sichtbaren Defekten zu erkennen, einschließlich Hohlräume, Zeilenumbrüche und Kantenrauhigkeiten, sowie Defekte, die durch Chipkonturen oder Linientopographie verursacht werden. Darüber hinaus ist es in der Lage, Kontaminationspartikel, lithographische Kontaminationen und andere Defekte zu erkennen, die Ausbeuten beeinflussen können. Schließlich ist die Anlage für den Einsatz in Reinraumumgebungen konzipiert und verfügt über ein optionales Luftfiltermodell. Dadurch wird sichergestellt, dass die Prüfeinrichtung frei von äußeren Verschmutzungen ist. Darüber hinaus ist das System so konzipiert, dass es sich reibungslos in den vorhandenen Prozessablauf integriert und optionale Datenausgabefunktionen bietet. Dadurch wird sichergestellt, dass Anwender Fehler verfolgen und Fehlertrends leicht analysieren können, um die notwendigen Korrekturmaßnahmen zeitnah zu ergreifen.