Gebraucht ASM IBE 139 #293637822 zu verkaufen

ASM IBE 139
ID: 293637822
Buffer system.
ASM IBE 139 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die zur Erkennung von Defekten und Partikeln auf Halbleiterscheiben entwickelt wurde. Es wurde von Automated Semiconductor Makers (ASM), einem führenden Anbieter von Halbleitertest- und Inspektionssystemen, entwickelt. Das System basiert auf einer Optical Microscopy Imaging Beam (OMiB) -Technik, die hochauflösende Bildgebung mit automatisierter Partikelentfernung kombiniert. Es verfügt über eine integrierte Toolbox mit über 50 automatisierten Werkzeugen, mit denen Hersteller und Designer Gerätefehler schnell und genau analysieren können. Das Gerät verwendet drei Hauptkomponenten. Die erste Komponente ist das Mikroskop, eine optische Maschine, die Nahaufzeichnungen von Wafern erzeugt. Es kann in verschiedenen Vergrößerungen und Auflösungen arbeiten, um eine detaillierte Ansicht der Mikrostruktur des Wafers zu ermöglichen. Es umfasst auch fortgeschrittene Bildverarbeitungssoftware zur automatisierten Bildanalyse, zur Erkennung von Defekten und Partikeln und zur Erstellung von Berichten. Die zweite Komponente ist die ultasonische Reinigung. Es wird verwendet, um Partikel aus einem Wafer mit Ultraschallwellen zu entfernen. Die Wellen werden von einem Wellenleiter erzeugt und dann auf eine bestimmte Stelle auf dem Wafer gerichtet. Der Wellenleiter reinigt die Waferoberfläche und kann auch Partikel oder Risse erkennen, die zur Qualitätskontrolle verwendet werden können. Die dritte Komponente ist der Infrarotfilter. Es wird verwendet, um Partikel aus dem Wafer zu entfernen, indem das ultraviolette und sichtbare Licht im Spektrum entfernt wird. Es inspiziert einen Wafer mit Infrarotstrahlung, so dass es ein verbessertes Bild von Partikeln und Defekten zu erzeugen. Mit Hilfe dieser Komponenten kann ASM IBE139 Tool Partikel, Defekte und Verschmutzungen auf Halbleiterscheiben erkennen. Es kann auch Variabilität in der Topographie von Wafern, Abweichungen in den Filterspezifikationen und zur Überwachung der Waferoberflächenqualität erkennen. Das Asset kann genutzt werden, um den Ertrag zu maximieren, Kosten zu senken und die Qualität der produzierten Geräte zu verbessern.
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