Gebraucht ASM IBE 139 #9253542 zu verkaufen

ASM IBE 139 ist eine führende Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die von ASM International entwickelt und hergestellt wurde. Dieses fortschrittliche Bildgebungssystem ist schnell zum Industriestandard in der Bildgebung für die Halbleiterherstellung geworden und bietet verbesserte Prüfgenauigkeit und Zuverlässigkeit. ASM IBE139 unit kombiniert ein leichtes, kompaktes Design mit anspruchsvoller Bildgebung und automatisierter Fehlersuch- und Klassifizierungssoftware. Herzstück der IBE 139-Maschine ist ein High-Tech-Bildgebungsgerät, das als Cross-Section Scanning Electron Microscope (XSEM) bekannt ist. Dieses fortschrittliche Mikroskop ist in der Lage, 3D-Bilder von Probenscheiben und Masken mit einer Auflösung von bis zu 50 Nanometern aufzunehmen. Diese Bilder ermöglichen es Ingenieuren, Fehler im Wafer oder der Maske so klein wie ein einzelnes Atom in der Größe zu erkennen. IBE139 ist auch mit einer Reihe von automatisierten Fehleranalyse-Tools ausgestattet, die die Inspektion einfacher und effizienter machen. Seine leistungsstarken Fehlersuchalgorithmen können Fehler schnell und genau erkennen und klassifizieren, und eine integrierte Weboberfläche zeigt die Ergebnisse in Echtzeit an. Dies ermöglicht es, Fehler zu erkennen und zu beheben, während das Los vor Ort ist, was Zeit und Geld spart. Zusätzlich zu seinen Imaging-Funktionen, ASM IBE 139 Tool kommt mit einer Vielzahl von erweiterten Analyse und Reporting-Tools, die es einfach zu verfolgen und zu überprüfen Fehlerdaten. Die Anlage erstellt detaillierte Prüfberichte mit Diagrammen und Testergebnissen als einfache Referenz. Es speichert und verfolgt auch historische Daten, sodass Ingenieure Ergebnisse im Laufe der Zeit vergleichen und kontrastieren können. ASM IBE139 ist ein zuverlässiges, hochwertiges Bildverarbeitungsmodell, das mehrere Vorteile bietet, einschließlich erhöhter Genauigkeit und Effizienz, reduzierter Kosten und verbesserter Fehlererkennungsfunktionen. Dies macht es zu einer idealen Wahl für jede Masken- und Wafer-Inspektionsaufgaben, von Routineanwendungen bis hin zu Anwendungen mit hohem Volumen. Mit seinen fortschrittlichen bildgebenden Funktionen kann es fehlerfreie Teile schnell und zuverlässig überprüfen und mögliche Probleme mit der Produktion identifizieren.