Gebraucht ASM IBE 139H #9150566 zu verkaufen

ASM IBE 139H Mask and Wafer Inspection Equipment ist ein fortschrittliches, automatisiertes Inspektionssystem, das präzise und zuverlässige Messungen von Halbleiterbauelementen und -schaltungen bietet. Es wird für Produktions- und Forschungszwecke verwendet und bietet bildbasierte 3D-Messungen mehrerer Merkmale und Strukturen auf dem Gerät. Das Gerät ist mit zwei leistungsstarken und hochpräzisen Messwerkzeugen in einer Einheit ausgestattet, darunter eine hochauflösende Sichtmaschine und ein komplementäres Luftlagerwerkzeug. Das hochauflösende Video-Asset wird für schnelle und genaue optische Messungen von Merkmalen in verschiedenen Farben, feinen Strukturen und geometrischen Bildern verwendet. Mit einer Auflösung von 0,36 µm kann es in weniger als einer Minute bis zu 10.000 separate Bilder der Struktur aufnehmen und sowohl den inneren als auch den äußeren Bereich des Geräts detailliert analysieren. Das komplementäre Luftlagermodell verwendet Luftfiltertechnologie, um elektrische, optische und mechanische Komponenten mit hoher Präzision zu messen. Diese Ausrüstung kann diese Eigenschaften bis zu 10 Mikrometer genau messen. Das System unterstützt eine Reihe verschiedener Sondensysteme, wie Luftlager, Nadelsonden und Kraftsonden. IBE 139H kann eine Vielzahl von Masken- und Wafer-Musterkonfigurationen messen, darunter mehrere Masken, mehrere Wafer und unterschiedliche Dicken. Diese Proben können von 0.5mm bis 20mm in der Größe reichen. Seine fortschrittliche Optik und Sondierungseinheit kann verschiedene Teile der Struktur genau und schnell erfassen und messen. Die Software für ASM IBE 139H ist ebenfalls von großem Wert und verfügt über eine Reihe von Funktionen. Es umfasst Unterstützung für mehrere Dateien, Ein-Klick-Strukturmessung und -bearbeitung, Datenanalyse- und Steuerungsdateien sowie Optionen für Maskenzeichnungen. Die Software bietet auch dynamische Berichte, benutzerdefinierte Parameter und fehlerverhindernde Automatisierung, um genaue Messungen zu gewährleisten. All-in-all, IBE 139H Mask und Wafer Inspection Machine ist ein fortschrittliches und leistungsstarkes automatisiertes Inspektionswerkzeug, das präzise, schnelle und wiederholbare Messungen mehrerer Merkmale und Strukturen auf Halbleiterbauelementen und Schaltungen bereitstellt. Es ist gut ausgestattet mit einer hochauflösenden bildgebenden Anlage und einem komplementären Luftlagermodell, wodurch es für Produktions- und Forschungszwecke geeignet ist. Seine benutzerfreundliche Software macht es einfach zu bedienen und macht die Datenanalyse genau und zuverlässig.