Gebraucht ASM TIB 139 #9299366 zu verkaufen

ASM TIB 139 ist eine speziell für den Wafer-Würfelprozess entwickelte Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung. Es ist Teil der Advanced Semiconductor Manufacturing (ASM) Produktfamilie. TIB 139 verwendet eine fortschrittliche optische Strahlmustertechnik, um die Oberfläche eines Wafers zu inspizieren, um potenzielle Mikrodefekte zu erkennen. Das System besteht aus einem speziell konstruierten großen optischen Tisch, einer Bildverarbeitungseinheit und einer hochauflösenden Kamera. Darüber hinaus unterstützt es eine Reihe hochwertiger Optik und Software, die eine Vollfeldinspektion der Oberfläche eines Wafers bei unterschiedlichen Vergrößerungen ermöglicht. Der große optische Tisch ermöglicht es ihm, bis zu einer 10-Mikrometer-Fläche der Oberfläche eines Wafers zu inspizieren und seine bemerkenswerte höhere Auflösung von bis zu 50 nm kann auch die kleinsten Defekte auf der Oberfläche erkennen. Die im Gerät enthaltene Kamera hat eine CCD-Auflösung von 2048 × 1536 mit einem 2560X2048 Dynamikbereich. Es enthält auch eine Reihe von Filtern, die für die Verbesserung der Bildqualität und eine bessere Analyse wesentlich sind. Um verschiedene Wafergrößen aufnehmen zu können, wird die ASM TIB 139 auch mit auswechselbaren Ladeböden geliefert. Die in der Maschine enthaltene Software ermöglicht eine fortschrittliche Bildanalyse und Unterstützung für präzise Messungen und Berechnungen. Es kann Anomalien und Unregelmäßigkeiten erkennen, indem es Bilder in verschiedenen Winkeln analysiert und Anweisungen zur Korrektur der Fehler anzeigt. Dadurch wird gewährleistet, dass die Wafer die gewünschten Standards erfüllen. Das Werkzeug TIB 139 ist ebenfalls sehr zuverlässig und kann in Serienumgebungen eingesetzt werden. Es ermöglicht die Herstellung hochwertiger Wafer und hilft bei der Reduzierung von Verschwendung durch defekte Oberflächenprüfung. Seine leistungsstarken, zuverlässigen und benutzerfreundlichen Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für den Scheibenwürfelprozess.