Gebraucht NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT PD7440/00 #293639724 zu verkaufen

ID: 293639724
System.
ACCENT PD7440/00 Mask & Wafer Inspection Equipment ist eine kostengünstige automatisierte Plattform zur mikroskopischen Inspektion und Fehleranalyse von substraten Wafern und Masken, die zur Herstellung prozesskritischer Halbleiterbauelemente verwendet werden. Dieses fortschrittliche Inspektionssystem verfügt über eine hochwertige digitale Bildverarbeitungseinheit, die eine zuverlässige genaue Inspektion und Erfassung von Bildern ermöglicht. Die Maschine ist entweder mit einer Digitalkamera mit 5- oder 10-Mikrometer-Auflösung und einem Satz auswechselbarer Objektivbrennweiten ausgestattet. Die Linsen erleichtern die Inspektion von großen Chipgrößen von klein (unter 200um), mittel (201-800um) und groß (über 800um). Darüber hinaus umfasst das Inspektionswerkzeug ein 7x optisches Mikroskop, 5 Vergrößerungsoptionen von 1X bis 5X und ein Low-Profile-Element zur optischen Laserausrichtung, das eine präzise Positionierung für die Analyse ermöglicht. Ein 4-Zoll-LCD-Farbmonitor und eine intuitive, benutzerfreundliche Windows-basierte PC-Steueroberfläche ermöglichen eine komfortable Anzeige, Erfassung und Analyse von Bildern. Darüber hinaus ist das BIO-RAD PD7440/00 Mask & Wafer Inspection Model mit einer Vielzahl spezialisierter Software- und Hardwarekomponenten gekoppelt und somit ideal für Halbleiteranwendungen geeignet. Software-Funktionen umfassen Elektronenstrahl-Lithographie (EBL) Simulation, CAD-Programmierung, Display Designer und Flexible Mapping. Diese umfassende Sammlung von Funktionen ermöglicht es Benutzern, ganz einfach spezifische Muster für die abgebildeten Ziele zu programmieren, zu analysieren und zu entwerfen. Das Gerät verfügt auch über ein automatisches Wafer-Alarm-Vergleichssystem, das Echtzeitbilder des zu inspizierenden Wafers mit gespeicherten „goldenen“ Bildern eines idealen Wafers vergleicht, um Fehler schnell zu erkennen. Dadurch können Fehler leichter und schneller erkannt werden, wodurch die Inspektionszeit verkürzt und potenzielle Fehlprodukte vermieden werden. Was die Leistung anbelangt, ist NANOMETRICS PD7440/00 in der Lage, substratisierte Wafer mit Geschwindigkeiten von bis zu 40.000 U/min zu inspizieren und so fehlerhafte Bereiche schnell zu lokalisieren und zu identifizieren. Die Einheit wird mit Hochgeschwindigkeitsdatenübertragungsfähigkeiten ausgestattet, es passend für die dynamische Leistung über vielfache Seiten machend. Insgesamt ist NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT PD7440/00 Mask & Wafer Inspection Machine eine zuverlässige Automatisierungsplattform, die Anwendern vielseitige und kostengünstige Inspektionsmöglichkeiten für Wafer und Masken bietet, die für kritische Halbleiterbauelementherstellungsprozesse verwendet werden. Die Kombination fortschrittlicher Bildverarbeitungsfunktionen mit vielseitigen Hardware- und Softwarefunktionen bietet die ideale Plattform für eine Vielzahl von Halbleiteranwendungen.
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