Gebraucht NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q200i #9390851 zu verkaufen

NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q200i
ID: 9390851
Overlay measurement systems.
NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q200i ist eine hochpräzise Masken- und Wafer-Inspektionsanlage zur Inspektion von defektfreien Masken und Wafern bis 200 mm Durchmesser. Dieses System bietet überlegene bildgebende Funktionen und die höchste räumliche Auflösung aufgrund des fortschrittlichen proprietären optischen Designs. Darüber hinaus ist die Einheit in der Lage, Submikron-Abbildungen mit Auflösungen bis zu 0,7 Mikrometer im nicht konfokalen Abbildungsmodus und 0,45 Mikrometer im konfokalen Abbildungsmodus mit dem konfokalen Abtastkopf abzubilden. ACCENT Q200i verfügt über eine Reihe von hochauflösenden Bildgebungswerkzeugen zur Inspektion verschiedener Arten von Maskenmerkmalen und Wafern. Dazu gehören: Masken- und Kontaktausrichter, Waferausrichtung, CDM-Werkzeuge (Critical Dimension Measurement), optische und Elektronenstrahl-Bildvergrößerung und verdächtige Geräteanalyse, um nur einige zu nennen. Mit Hilfe einer Autofokus-Kamera kann diese Maschine sowohl die optische als auch die Elektronenstrahl-Bildgebung nutzen, um Mikrofehler zu erfassen, während das eingebaute Bildanalyse-Tool eine schnelle genaue Fehleranalyse ermöglicht. Das Asset umfasst ein ausgeklügeltes, auf Vision basierendes Fehlerüberprüfungstool und eine 10-Megapixel-CMOS-Kamera, die eine Bildverarbeitungsengine zur Erkennung von Subpixelfehlern bereitstellt. Das Modell verfügt auch über integrierte Datenintegritäts- und Vergleichswerkzeuge, mit denen Benutzer fehlerfreie Wafer bis zur Produktion aufrechterhalten können. Dieses Gerät kann mit anderen Geräten wie Laser-Scribes und Film-Dicing-Systemen integriert werden, um eine genaue und wiederholbare Fehlererkennung zu gewährleisten. BIO-RAD Q200i verfügt über eine Reihe modernster Funktionen und Vorteile, darunter ein vollautomatisches Gehäuse, eine erweiterte Bildanalyse, eine benutzerfreundliche Softwareschnittstelle, Echtzeit-Datenanzeigefunktionen und Datenprotokollierung. So können Benutzer problemlos Fehlerinformationen aus den Masken und Wafern navigieren, um einen Auftrag zu vergleichen. Insgesamt ist NANOMETRICS Q200i ein ausgezeichnetes Masken- und Waferinspektionssystem, das beispiellose Bildanalysefunktionen, Genauigkeit und Wiederholbarkeit bietet. Mit seinen schnellen genauen Fehlererkennungsfunktionen ist dieses Gerät ideal für die Herstellung von hochwertigen defektfreien Masken und Wafern.
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