Gebraucht NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q7 / Q8 #122833 zu verkaufen
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ID: 122833
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1998
Overlay metrology tools, 8"
KENSINGTON X,Y,Z Stage
Digital tape drive and 3 1/4 floppy drive
(2) MITSUBISHI Diamond scan monitors
UNIX Operating system
Objectives: 4X, 30X, 70X
Xenon lamp
SECS / GEM Interface
Ethernet connection
1998 vintage.
NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7/Q8 Mask & Wafer Inspection Equipment ist ein umfassendes Masken- und Wafer-Inspektionssystem, das hochgenaue Bildgebung mit anspruchsvoller softwarebasierter Fehleranalyse und Dokumentation kombiniert. Das ACCENT Q7/Q8 wurde entwickelt, um die schnelle und effiziente Inspektion von Photomasken zu ermöglichen, die im Halbleiterherstellungsprozess verwendet werden. Es bietet erstklassige Leistung und Zuverlässigkeit. Das Gerät verfügt über ein digitales Inspektionsmikroskop, das überlegene Bildgebungs- und Lichtfunktionen mit einstellbaren Vergrößerungen und Fokusfunktionen von bis zu 2000X bietet. Diese fortschrittliche Bildgebungstechnologie ist mit einer fortschrittlichen softwaredefinierten Fehlererkennungsmaschine gekoppelt, die eine breite Palette von IC-Defekten einschließlich Partikelfehlern, Stanzfehlern und Leitungsfehlern erkennen kann. BIO-RAD Q7/Q8 bietet mit einer Reihe von Echtzeit-Hartprozessoreinheiten und dediziertem Speicher eine überlegene Geschwindigkeit und Genauigkeit für Licht- und Elektronenstrahl-Bildgebungsanwendungen. NANOMETRICS Q7/Q8 bietet eine Reihe von automatisierten Inspektionsfunktionen, einschließlich automatischer Wafernähte für eine umfassende Abdeckung, eine umfassende Fehlerinspektionsbibliothek für genaue Fehlererkennung und erweiterte Maskenvisualisierungs- und Bearbeitungswerkzeuge für eine hochpräzise Ausrichtung. Das Tool unterstützt auch eine branchenführende Suite von automatisierten Fehlererkennungs- und Analysewerkzeugen einschließlich Partikelfehlerkategorisierung, Modulfehlerprüfung, parametrische Fehleranalyse und optionale erweiterte Flachbildschirm-Inspektionsoptionen. Q7/Q8 integriert sich nahtlos in ACCENT Aleris Semiconductor Quality Control Asset und ermöglicht eine vollständige Automatisierung des Fehlerüberprüfungsprozesses. Aleris Semiconductor bietet ein vollständig integriertes Fehlerüberprüfungs-Framework, das die schnelle Überprüfung, Analyse und Meldung kritischer Fehler in den Wafern durch NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7/Q8-Modell ermöglicht. Durch die Integration in die Aleris-Plattform stellt ACCENT Q7/Q8 sicher, dass alle geprüften Masken- und Waferdaten zur weiteren Überprüfung bereitstehen. Insgesamt bietet BIO-RAD Q7/Q8 Mask & Wafer Inspection Equipment überlegene Leistung und Zuverlässigkeit für die Masken- und Waferinspektion in der Halbleiterindustrie. Seine erweiterten Bildgebungs- und Erkennungsfunktionen, gepaart mit einer einfachen Integration in das Aleris Semiconductor Quality Control System, bieten zusätzliches Vertrauen in die Maskenqualität und stellen sicher, dass kritische Fehler schnell lokalisiert und überprüft werden.
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