Gebraucht HOLOGENIX YIS-200SP #293769606 zu verkaufen

HOLOGENIX YIS-200SP Mask & Wafer Inspection Equipment ist ein hochauflösendes, automatisiertes digitales Bildgebungssystem, das die automatisierte Inspektion, Analyse, Klassifizierung und Qualifizierung von fotolithographischen Masken und Wafern ermöglicht. Das Gerät ist in der Lage, eine breite Palette von Metrologiefunktionen durchzuführen und sowohl detaillierte als auch globale Bilder und Messungen der Maske oder des Wafers bereitzustellen. YIS-200SP Mask & Wafer Inspection Machine wurde entwickelt, um komplexe topographische Strukturen auf Masken und Wafern genauer und schneller als herkömmliche optische Systeme zu überprüfen, zu messen und zu inspizieren. Diese hohe Genauigkeit wird durch den Einsatz fortschrittlicher Optik- und Scankopftechnologien erreicht, die eine schnelle Abtastung einer Werkstückoberfläche sowie eine Feinpositionierung der Laserlinie zur quantitativen Messung von Merkmalen und Mustern auf der Oberfläche ermöglichen. Es ist auch ein ideales Werkzeug für die Messung von Ebenheit, Dicke Schablonen Substrate und andere komplexe topographische Oberflächen. Das Werkzeug ist mit einer beugungsbegrenzten Optik ausgestattet, die eine präzise und genaue Abbildung sowohl großer als auch kleiner Merkmale der Maske ermöglicht. Dadurch wird auch sichergestellt, dass die aufgenommenen Bilder vollständig im Fokus stehen, ohne farbliche Anomalien. Es wird von horizontalen und vertikalen Laserscanning-Fähigkeiten sowie einem Winkelsichtfeld angetrieben. Dies sieht die Konstruktion einer 3D-Karte vor, die Informationen enthält, die die unterschiedlichen topographischen Merkmale des Werkstücks beschreiben. HOLOGENIX YIS-200SP Mask & Wafer Inspection Asset verfügt über erweiterte Analysefunktionen mit Optionen zur automatisierten Erkennung und Klassifizierung von Fehlern sowie zur manuellen Klassifizierung und Meldung von Fehlern. Darüber hinaus kann das Modell neben der Erkennung von Fehlern und Defekten an Masken und Wafern auch zum Vergleich von Masken mit Zeichnungen und zur Gewährleistung der ordnungsgemäßen Funktionalität von Masken verwendet werden. Das Gerät bietet die Möglichkeit, Bilder zu Überprüfungszwecken an das entfernte System des Benutzers zu übertragen oder ständig aktualisierte Bilder über ein LAN zu übertragen. Dadurch wird sichergestellt, dass der Benutzer Bilder unabhängig von der physischen Entfernung in Echtzeit zur Überprüfung und Analyse empfangen kann. Abschließend ist YIS-200SP Mask & Wafer Inspection Unit ein leistungsfähiges und vielseitiges Werkzeug zur Inspektion und Qualifizierung von fotolithographischen Masken und Wafern, dank seiner fortschrittlichen Optik, beugungsbeschränkten Bildgebung und erweiterten Analysefunktionen. Es ermöglicht eine schnelle und genaue Analyse und Erkennung von Fehlern und Fehlern sowie den Vergleich von Masken mit Zeichnungen und ist somit eine ideale Wahl für Masken- und Waferanwendungen.