Gebraucht HITACHI CG 4000 #293768309 zu verkaufen

HITACHI CG 4000
ID: 293768309
Scanning Electron Microscopes (SEM).
HITACHI CG 4000 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das die Beobachtung hochauflösender Bilder biologischer und nichtbiologischer Oberflächen ermöglicht. Es hat einen Beschleunigungsspannungsbereich von 1 bis 30 kV und ermöglicht eine breite Palette zerstörungsfreier Analysen. Das Strahl-Autofokussierungssystem (AF) bietet eine hochgenaue automatische Fokussierung und die Detektorbaugruppe unterstützt vier Betriebsarten, einschließlich Scannen, Mikrobildgebung, großflächige Bildgebung und Niederspannung SEI. Mit der Abtastfunktion kann die gesamte Oberfläche der Probe abgebildet werden. In der Zwischenzeit liefert die Mikrobildgebung ein sehr hochauflösendes Bild eines einzelnen Bereichs zur weiteren Analyse. Die großflächige Bildgebung scannt bis zu 50 Mikrometer und sammelt dabei hochauflösende Bilder. Der Niederspannungsmodus SEI (Secondary Electron Imaging) ermöglicht die Analyse planarer Bereiche. Darüber hinaus bietet die Detektoranordnung sowohl ein In-Column-Energiefilter für die EDS-Analyse (Energy Dispersive Spectroscopy) als auch einen zusätzlichen Detektor für die EBSD-Analyse (Electron Backscatter Diffraction). Die Daten werden von der Eclipse Software erhoben und verarbeitet. HITACHI CG4000 bietet eine hervorragende Leistung und verfügt über ein leistungsfähiges Korrektursystem, das viele der mit SEM-Bildgebung verbundenen Artefakte korrigiert. Es ist in der Lage, Funktionen bis zu einer Größe von 0,5 nm abzubilden und kann kleine Merkmale auf der Probenoberfläche erkennen. Das Mikroskop bietet auch ein In-Column-Gas-Flow-System, mit dem Anwender analytische Experimente wie Tem oder Trem bei unterschiedlichen Vergrößerungsgraden durchführen können. Darüber hinaus verfügt es über ein dediziertes Beispiel-Navigator-Fokussiermodul, das topographischen Funktionen automatisch folgt, um sicherzustellen, dass Bilder deterministisch und wiederholbar bleiben. Insgesamt ist CG-4000 ein leistungsfähiges und zuverlässiges SEM, das hochauflösende Bildgebungs- und Analysefunktionen für eine Vielzahl von Anwendungen bietet.
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