Gebraucht HITACHI CG 4000 #9398450 zu verkaufen

HITACHI CG 4000 ist ein Benchtop-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, detaillierte dreidimensionale Daten in einer Vielzahl von Materialien bereitzustellen. Es verfügt über eine variable Vakuumkammer, die eine tune-freie E-Pistole verwendet, die die Ausbeute und den Durchsatz von Proben erhöht. Es ist ein variabler Druck SEM, der sowohl im Hochvakuum als auch im variablen Druckmodus gleichzeitig arbeitet und ein hohes Leistungsniveau bietet. Das Mikroskop wird von einer fortschrittlichen Computerausrüstung mit Trockenfilmautofokus angetrieben und verfügt über ein Scanfeld von bis zu 8mm. Es ist mit einem integrierten elektronischen Kompensationssystem und einer automatisierten Wafererkennungseinheit ausgestattet. HITACHI CG4000 verwendet eine fortschrittliche E-Detektor-Maschine, die es ermöglicht, Bilder mit Detail und Klarheit zu erfassen. Es ist mit einer großen Kammertiefe und einem hochauflösenden Kugelspiegel ausgestattet, der eine große Schärfentiefe bietet. Das Mikroskop ist vielseitig einsetzbar und kann in einer Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden, wie Inspektion der Elektronenstrahl-Lithographie, hohe Seitenverhältnisätzung, Fehleranalyse und Overlay-Inspektion. CG-4000 verfügt über einen Helligkeitsdetektor, einen integrierten Helligkeitsregler und ein digitales Scan-Tool. Es ist mit einer leistungsstarken und zuverlässigen XYZ-Bühne und einem großen Probentablett ausgestattet. Die XYZ-Stufe kann die Probe auf der X-Y-Ebene bewegen und eine Rotation in der Z-Ebene durchführen. Das Mikroskop ermöglicht es, sowohl Niedervakuum als auch Normalvakuum-Modi zu verwenden. Zusammenfassend ist HITACHI CG-4000 ein leistungsfähiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, detaillierte Bilder aus einer Vielzahl von Materialien zu erzeugen. Es ist mit einer variablen Vakuumkammer und einem großen Sichtfeld ausgestattet. Es verfügt auch über einen fortschrittlichen elektronischen Detektor, eine integrierte elektronische Kompensationsanlage und ein automatisiertes Wafererkennungsmodell. Es bietet eine hohe Leistung für eine Vielzahl von Anwendungen.