Gebraucht JEOL JSM 6340F #293601758 zu verkaufen

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ID: 293601758
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6340F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das ein hochwertiges, leistungsstarkes Design für eine breite Palette von Probenbild- und Analysebedürfnissen bietet. JEOL JSM-6340F hat eine große Schärfentiefe, die die Beobachtung von Objekten in verschiedenen Tiefen ermöglicht. Die Probe wird mit einem fokussierten Elektronenstrahl beleuchtet, der dann über die Probe gescannt wird, wodurch ein 3D-Bild erzeugt werden kann. JSM 6340 F verfügt über ein Autofokussierungssystem, ein Bilderfassungssystem und eine Hochleistungs-Elektronenkanone für eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten einschließlich Materialanalyse und Elementarkartierung. Die Elektronenkanone ist bis zu 10kV funktionsfähig und kann zur elementaren Kartierung, Bildgebung und Quellenanalyse verwendet werden. Ein fortschrittliches Bildverarbeitungssystem und digitale Signalverarbeitung ermöglichen die Analyse von Bildern mit scharfen Details und Auflösung. JEOL JSM 6340 F ist auf Flexibilität ausgelegt, die den Einsatz einer Vielzahl von Detektoren und Detektoren mit unterschiedlichen Öffnungen ermöglicht. Dies ermöglicht die Erfassung von Signalen, Sekundärelektronen und Rückstreuelektronen oder allen drei, was zu komplementären Bildern führt. Der Bereich verfügt zudem über einen kryogenfreien Betrieb, der eine optimale Leistung gewährleistet und gleichzeitig energieeffizient bleibt. JEOL JSM-6340 F bietet anspruchsvolle Softwarefunktionen und eine intuitive Benutzeroberfläche, die eine einfache Einrichtung und Bedienung ermöglicht. Die Software enthält eine integrierte Bibliothek mit operationellen Programmen und die Fähigkeit, Parameter für optimale Ergebnisse zu verfeinern. Für die Automatisierung und Datenanalyse stehen eine breite Palette von Softwarepaketen zur Verfügung, wie programmierbare Anmerkungstools, Auto-Edge-Auflösungsfunktionen und automatisierte Spitzenerkennungs- und Messalgorithmen. JSM-6340F bietet zuverlässige, leistungsstarke und vielseitige Bildgebungsfunktionen für eine breite Palette von Probengrößen, die zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse ermöglichen. Seine intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht eine einfache Einrichtung und Bedienung und ist somit eine ideale Wahl für die Materialforschung, industrielle Analyse und viele andere Anwendungen.
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