Gebraucht JEOL JSM 6340F zu verkaufen

Rasterelektronenmikroskope

Hersteller

JEOL

Modell

JSM 6340F

Soll man verkaufen?

Zum Verkauf einreichen

4 Ergebnisse gefunden

Filter

Alle löschen

4 Ergebnisse

Beliebtes Produkt

Scanning electron microscope, 4", parts system Specifications: In-lens secondary electron detector

172

Finden Sie nicht, was Sie suchen?

Beliebtes Produkt

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).

116

Beliebtes Produkt

SEM Specifications: a. Performance SEI Resolution : 1.2 nm guaranteed (Acc. V. = 15kV) 2.5 nm gu

241

Beliebtes Produkt

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).