Gebraucht JEOL JSM 6340F #9364860 zu verkaufen

JEOL JSM 6340F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das verwendet wird, um hochauflösende Bilder von kleinen, morphologisch komplexen Strukturen zu erzeugen. Es ist in der Lage, Merkmale bis zu 0,1 Nanometer zu erkennen, so dass die Visualisierung kleiner struktureller Merkmale ohne weitere Vergrößerung möglich ist. Es verfügt über eine Feldemissionselektronenquelle, die Elektronenstrahlen mit weniger als 5 Milliampere Strom erzeugen kann, ermöglicht Bilder mit hoher Auflösung und Bildstabilität. Darüber hinaus sorgt die digitale Vakuumausrüstung des SEM für ein klares Vakuum in der Säule, was zu einer hochstabilen Abbildungsplattform führt. Um qualitativ hochwertige Bilder ohne Artefakte zu erhalten, bietet JEOL JSM-6340F einen erweiterten Sekundärelektronendetektor mit einem Lichtblocker und einem In-Column-Energiefilter an. Der Lichtblocker hilft, Bildverzerrungen durch externe Lichtquellen zu reduzieren, während der In-Column-Energiefilter durch optimale Elektronenenergieeinstellung kontraststeigernd eingestellt werden kann. Dies führt zu höheren Kontrastbildern, insbesondere zur Identifizierung kleiner Merkmale. Darüber hinaus unterstützt die Probenkammer der JSM 6340 F eine Vielzahl von Betrachtungsmodi, einschließlich variabler Druck (VP), Niedervakuum (LV) und Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM). Der VP-Modus unterdrückt Ladeeffekte auf das Objekt, während der LV-Modus die Abbildung nichtleitender Proben erleichtert. Wie bei MINT ermöglicht die aberrationskorrigierte Objektivlinse des Mikroskops die Quantifizierung der Probenzusammensetzung. JEOL JSM 6340 F ist ebenfalls gut ausgestattet mit einem In-Column-Bildgebungssystem. Diese Einheit umfasst einen In-Column-Deflektor und Scan-Spulen zur Probenpositionierung und Fokussierung sowie eine Präzisions-Scan-Stufe, die eine stabile Probenmontage und eine reproduzierbare Abtastung ermöglicht. Darüber hinaus bietet eine eingebaute schwingungsisolierende Maschine mit niedriger Drift zusätzliche Unterstützung zur Minimierung von Querschnittsverzerrungen und Neigung von Probenbildern, die durch Kamerastöße verursacht werden. JEOL JSM-6340 F verfügt über eine präzise Ausrichtung und einen automatisierten Kehrmodus zur Feinabstimmung im Scanmodus. Die Ausrichtungssysteme richten die Probe für eine optimale Scanauflösung präzise und schnell aus. Es gibt auch das integrierte Auto-Fokus-Tool, das hilft, eine konsistente Bildqualität und Auflösung zu erhalten. Abschließend ist JSM-6340 F ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende Bilder mit geringer Drift und geringem Rauschen erzeugen kann. Es ist mit verschiedenen Funktionen und Zubehör ausgestattet, die seine Funktionalität erweitern, so dass es eine ideale Wahl für die Abbildung von morphologisch komplexen Strukturen.