Gebraucht JEOL JSM 6340F #293775744 zu verkaufen

JEOL JSM 6340F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das mit seinen Wechselspannungsfähigkeiten eine hochauflösende Abbildung von Oberflächen und Nanostrukturen bietet. Es arbeitet mit einem Sekundärelektronendetektor, wodurch Bilder der Probenoberfläche mit hoher Vergrößerung entstehen. Dieses Instrument arbeitet auch im rückgestreuten Elektronenbildmodus, der aufgrund starker Dämpfung von verschiedenen in der Probe vorhandenen Elementen elementare Informationen liefern kann. JEOL JSM-6340F verwendet eine monochromierte Elektronenkanone mit niedrigem Hintergrund, um einen Elektronenstrahl mit zweidimensionaler Auflösung bereitzustellen. Dieses Merkmal, kombiniert mit der einstellbaren Hochspannung für Primär- und Sekundärelektronen, macht JSM 6340 F für die Abbildung und Charakterisierung von Nanomaterialien geeignet. Die Pistole enthält auch eine Elektronenflutpistole, die die Raumladung reduziert und eine möglichst hohe Auflösung ermöglicht. Die Auflösung von JEOL JSM 6340 F wurde im rückgestreuten Elektronenmodus auf etwa 1 nm festgelegt, was höher ist als die Auflösungen, die durch optische Mikroskope und viele SEMs erreicht werden können. Darüber hinaus bietet es eine Schritt-Scan-Funktion, die es dem Benutzer ermöglicht, die Spannungsvorspannung an der Probe in Schritten einzustellen, was eine gründlichere Untersuchung ermöglicht. JEOL JSM-6340 F bietet die Wahl zwischen Wolfram oder LaB6 Elektronenfeldkonfiguration. Die Wolfram-Konfiguration ermöglicht es Benutzern, Proben abzubilden, die Bildgebung bei niedrigen Energien erfordern, während die LaB6 Konfiguration höhere Signal-Rausch-Verhältnisse und höhere Auflösung auf Proben mit höheren Ordnungszahlen bietet. Zur Einstellung des Elektronenstrahls bietet JSM-6340F einen Ionenstrahl-Probeneinsteller an, der eine Feinsteuerung des Strahls von 0 bis 200 μ A Strom ermöglicht. So kann ein Anwender die Strahlöffnung für die Abbildung einzelner Nanostrukturen exakt einstellen. Es bietet auch eine einfache Möglichkeit zur Einstellung der Strahlausrichtung, die für Kipp-/Verschiebungskorrekturen benötigt wird. Darüber hinaus verfügt JSM-6340 F über einen optionalen energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) -Detektor, der elementare Informationen über die abzubildende Probe liefern kann. Diese Informationen sind für Forscher von unschätzbarem Wert und vermitteln ein tieferes Verständnis der Materialien, die sie studieren. Abschließend ist JSM 6340F eine ideale Wahl für die Bildgebung und Charakterisierung von Nanomaterialien in niedriger und hoher Auflösung. Es bietet eine zuverlässige, genaue und flexible Plattform für Bildgebung und Analyse, die sowohl für die kommerzielle als auch für die akademische Forschung geeignet ist.