Gebraucht JEOL JSM 6340F #9076781 zu verkaufen

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ID: 9076781
Weinlese: 1998
FE Scanning Electron Microscope (FE-SEM) BSE Capability Noise canceler: Detector Grounding terminal: 1,100 Ω or less Pump: Ion pumps Oil rotary pump Oil diffusion pump Secondary electron image resolution: 15 kV: 1.2 nm 1 kV: 2.5 nm Magnification LM Mode: 25x to 2,000x Zoom mode (MAG) HR Mode: 500x to 650,000x (WD 8 mm) Electric optical system: Electron gun Type: Cold-cathode field emission Accelerating voltage: 0.5 to 30 kV 0.5 to 2.9 kV Variable in 0.01 kV steps 2.9 to 30 kV Variable in 0.1 kV steps Emission current: 4,8,12 µA Alignment: Mechanical horizontal shift Electromagnetic deflection Lens system: Condenser lens: (2) Stages Electromagnetic Zooming system Aperture angle Control Lens (ACL): Electromagnetic lens Electron Optical System (EOS) Operating modes Image scanning: High Resolution (HR) Low Magnification (LM) Alignment patterns (ALP) Focusable working distance: 2 to 25 mm Automatic focus: Image rotation compensator Dynamic focus: Objective lens apertures: 50, 70, 70, 110 µm in Diameter Stigmators Wobbler Specimen stage Type: Fully eucentric goniometer stage Specimen movement range X-Direction: 0-50 mm Y-Direction: 0-70 mm Z-Direction: 2, 3, 6, 8, 15 and 25 mm (Step wise change) Tilt: -5°C to 45°C Rotation: 360°C Endless Working distances: 2, 3, 6, 8, 15 and 25 mm Electron detector system: Detector Photo multiplier voltage Video amplifier control Contrast control Brightness control Back scattered electron detector: Imaging modes Detector Operation and display system Image data processing system Keyboard control Photographic recording system Scaler Vacuum system Safety devices Cooling water: Flow rate: 3 R. l/min or higher Pressure: 0.05 to 0.25 MPa Temperature: 20 ± 5°C Faucet: 1, ISO 7/1 Rc 1/4 Coupling / 1, 14 mm 0.0. Nozzle Drain: 1, ISO 711 Rc 1/4 Coupling / 1, Larger than 25 mm I.D. Nozzle Sample size: Maximum, 4" X-Direction: 50 mm Y-Direction: 70 mm Chamber: Airlock, 4" LN2 Cold trap, 4" No EDX Operating system: Windows 2000 Power supply: 200 V, 50/60 Hz, Single phase, 6 kVA 1998 vintage.
JEOL JSM 6340F ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es ist mit einer nanofokussierten Elektronenstrahlsäule und einer Vielzahl von Merkmalen für die Bildgebung, Analyse und Materialcharakterisierung ausgestattet. Das SEM wurde entwickelt, um klare Bilder der Oberfläche jeder Probe zu erzeugen, unabhängig von Größe oder Komplexität. JEOL JSM-6340F ist mit einer LaB6 Elektronenpistole ausgestattet, die Elektronen mit hoher Energie und geringer Divergenz produziert. Dies ermöglicht die exakte Fokussierung des Elektronenstrahls, um scharfe Bilder selbst kleinster Merkmale zu erzeugen. Das Instrument verfügt auch über eine fortschrittliche Dämpfungstechnologie, die Drift und Vibrationen während der Bildgebung reduziert, Genauigkeit gewährleistet und Artefakte beseitigt. Das SEM verfügt über einen hochempfindlichen Szintillator und eine Germaniumlinse, die Bildgebung bei höheren Vergrößerungen und Auflösungen ermöglichen. Dies ermöglicht eine verbesserte Detektion von Zusammensetzung und strukturellen Informationen. Das Mikroskop verfügt zudem über eine Indexiereinrichtung für eine schnellere und einfachere Bedienung. Das stets aktive, automatisierte Ausrichtsystem garantiert eine zuverlässige und wiederholbare Ausrichtung des Strahls. Dadurch entfällt die manuelle Anpassung des Strahls, was zu erheblichen Zeitersparnissen und einer verbesserten Auflösung führt. Weitere Merkmale des JSM 6340 F sind eine Hochgeschwindigkeits-Abtasteinheit, eine automatisierte Steuerungsmaschine und ein integrierter digitaler Signalprozessor. Das automatisierte Steuerwerkzeug hält die genaue Temperatur und Feuchtigkeit der Mikroskopkammer aufrecht und schafft eine stabile Betriebsumgebung. Der integrierte digitale Signalprozessor ermöglicht zudem eine effiziente Datenverarbeitung und Bildauflösung. JEOL JSM 6340 F ist das ideale Rasterelektronenmikroskop für Anwendungen, die höchste Genauigkeit und Auflösung erfordern. Ein breites Spektrum an Optionen und Funktionen macht dieses hochmoderne Mikroskop für nahezu jede SEM-Bildgebungsanwendung geeignet.
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