Gebraucht JEOL JSM 6340F #9076781 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom


Verkauft
ID: 9076781
Weinlese: 1998
FE Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
BSE Capability
Noise canceler: Detector
Grounding terminal: 1,100 Ω or less
Pump:
Ion pumps
Oil rotary pump
Oil diffusion pump
Secondary electron image resolution:
15 kV: 1.2 nm
1 kV: 2.5 nm
Magnification
LM Mode: 25x to 2,000x Zoom mode (MAG)
HR Mode: 500x to 650,000x (WD 8 mm)
Electric optical system:
Electron gun
Type: Cold-cathode field emission
Accelerating voltage: 0.5 to 30 kV
0.5 to 2.9 kV Variable in 0.01 kV steps
2.9 to 30 kV Variable in 0.1 kV steps
Emission current: 4,8,12 µA
Alignment:
Mechanical horizontal shift
Electromagnetic deflection
Lens system:
Condenser lens:
(2) Stages
Electromagnetic
Zooming system
Aperture angle Control Lens (ACL): Electromagnetic lens
Electron Optical System (EOS) Operating modes
Image scanning:
High Resolution (HR)
Low Magnification (LM)
Alignment patterns (ALP)
Focusable working distance: 2 to 25 mm
Automatic focus:
Image rotation compensator
Dynamic focus:
Objective lens apertures: 50, 70, 70, 110 µm in Diameter
Stigmators
Wobbler
Specimen stage
Type: Fully eucentric goniometer stage
Specimen movement range
X-Direction: 0-50 mm
Y-Direction: 0-70 mm
Z-Direction: 2, 3, 6, 8, 15 and 25 mm (Step wise change)
Tilt: -5°C to 45°C
Rotation: 360°C Endless
Working distances: 2, 3, 6, 8, 15 and 25 mm
Electron detector system:
Detector
Photo multiplier voltage
Video amplifier control
Contrast control
Brightness control
Back scattered electron detector:
Imaging modes
Detector
Operation and display system
Image data processing system
Keyboard control
Photographic recording system
Scaler
Vacuum system
Safety devices
Cooling water:
Flow rate: 3 R. l/min or higher
Pressure: 0.05 to 0.25 MPa
Temperature: 20 ± 5°C
Faucet: 1, ISO 7/1 Rc 1/4 Coupling / 1, 14 mm 0.0. Nozzle
Drain: 1, ISO 711 Rc 1/4 Coupling / 1, Larger than 25 mm I.D. Nozzle
Sample size: Maximum, 4"
X-Direction: 50 mm
Y-Direction: 70 mm
Chamber:
Airlock, 4"
LN2 Cold trap, 4"
No EDX
Operating system: Windows 2000
Power supply: 200 V, 50/60 Hz, Single phase, 6 kVA
1998 vintage.
JEOL JSM 6340F ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es ist mit einer nanofokussierten Elektronenstrahlsäule und einer Vielzahl von Merkmalen für die Bildgebung, Analyse und Materialcharakterisierung ausgestattet. Das SEM wurde entwickelt, um klare Bilder der Oberfläche jeder Probe zu erzeugen, unabhängig von Größe oder Komplexität. JEOL JSM-6340F ist mit einer LaB6 Elektronenpistole ausgestattet, die Elektronen mit hoher Energie und geringer Divergenz produziert. Dies ermöglicht die exakte Fokussierung des Elektronenstrahls, um scharfe Bilder selbst kleinster Merkmale zu erzeugen. Das Instrument verfügt auch über eine fortschrittliche Dämpfungstechnologie, die Drift und Vibrationen während der Bildgebung reduziert, Genauigkeit gewährleistet und Artefakte beseitigt. Das SEM verfügt über einen hochempfindlichen Szintillator und eine Germaniumlinse, die Bildgebung bei höheren Vergrößerungen und Auflösungen ermöglichen. Dies ermöglicht eine verbesserte Detektion von Zusammensetzung und strukturellen Informationen. Das Mikroskop verfügt zudem über eine Indexiereinrichtung für eine schnellere und einfachere Bedienung. Das stets aktive, automatisierte Ausrichtsystem garantiert eine zuverlässige und wiederholbare Ausrichtung des Strahls. Dadurch entfällt die manuelle Anpassung des Strahls, was zu erheblichen Zeitersparnissen und einer verbesserten Auflösung führt. Weitere Merkmale des JSM 6340 F sind eine Hochgeschwindigkeits-Abtasteinheit, eine automatisierte Steuerungsmaschine und ein integrierter digitaler Signalprozessor. Das automatisierte Steuerwerkzeug hält die genaue Temperatur und Feuchtigkeit der Mikroskopkammer aufrecht und schafft eine stabile Betriebsumgebung. Der integrierte digitale Signalprozessor ermöglicht zudem eine effiziente Datenverarbeitung und Bildauflösung. JEOL JSM 6340 F ist das ideale Rasterelektronenmikroskop für Anwendungen, die höchste Genauigkeit und Auflösung erfordern. Ein breites Spektrum an Optionen und Funktionen macht dieses hochmoderne Mikroskop für nahezu jede SEM-Bildgebungsanwendung geeignet.
Es liegen noch keine Bewertungen vor