Gebraucht JEOL JSM 6340F #9276338 zu verkaufen

JEOL JSM 6340F ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das speziell für eine detaillierte, hochauflösende Bildgebung für ein breites Anwendungsspektrum entwickelt wurde. JEOL JSM-6340F ist eine Aberration korrigierte Feldemissionskanone SEM, die unübertroffene Halbleiterbauelement und Schaltungsanalyse, Fehleranalyse und morphologische Untersuchung bietet. Es wird durch eine ultrastabile und zuverlässige nanoskalige bildgebende Ausrüstung für höchste Qualität bildgebend unterstützt. JSM 6340 F verfügt über eine breite Palette von bildgebenden Fähigkeiten, einschließlich rückgestreuter Elektronen (BSE) -Bildgebung, sekundärer Elektronen (SE) -Bildgebung und kompositorischer Spektroskopie-Bildgebung. Es kann mit integrierten EDS-Detektorfunktionen auch kleinste kryogene Probenänderungen erkennen. Seine High-End-Feldemissionselektronenquelle bietet ultrahohe Stabilität und Auflösungen bis zu 0,8 Nanometer. Die erweiterte optische Säule verwendet ein astigmatisches System mit zwei Linsen, das eine extrem stabile bildgebende Umgebung mit einer fortschrittlichen optischen Einheit bietet. Es verfügt über einen Winkelabweiser, der eine Winkelkorrektur während des Betriebs ermöglicht, was es zu einem idealen Werkzeug für eine höhere Bildauflösung macht. JSM 6340F verfügt über eine Vielzahl von erweiterten Funktionen, die es zu einer idealen Wahl für fortgeschrittene Bildgebung machen. Es ist mit einer Hochvakuumkammer ausgestattet, die entworfen wurde, um die Probenbildgebung in einer Ultrahochvakuumumgebung zu ermöglichen. Die Kammer kann auch bei niedrigeren Vakuum betrieben werden, so dass es geeignet für die Untersuchung von Proben, die niedrige Vakuumbedingungen erfordern. Es bietet auch eine Vielzahl von erweiterten Steuerungsfunktionen und Funktionen. Es enthält ein Bedienfeld zur Einstellung des Feldemissionsstroms und der Beschleunigung der Spannung. Es hat auch die Fähigkeit, Fokus- und Stigmator-Einstellungen mit einem integrierten Joystick zu steuern. Es verfügt auch über eine automatische Umlenkumkehrmaschine, die eine schnelle Abbildung mit konstanter Objektgröße und Vergrößerung ermöglicht. Darüber hinaus bietet JEOL JSM 6340 F durch seine Software erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen. Es verfügt über eine erweiterte Version der TEM-Bildgebungssoftware, die Benutzern die Werkzeuge bietet, die sie benötigen, um aberrationskorrigierte TEM-Bildgebungsaufgaben auszuführen. Es enthält auch eine leistungsstarke 3D-Bildrekonstruktions- und Analysesoftware, mit der Benutzer Informationen aus verschiedenen Bildern kombinieren können, um dreidimensionale Bilder von Proben zu erstellen. JSM-6340F ist ein fortschrittliches Imaging-Tool, das Anwendern helfen kann, hochgradig detaillierte, hochauflösende Imaging für eine Vielzahl von Anwendungen zu erstellen. Es ist in der Lage, die kleinsten kryogenen Probenänderungen zu erkennen und bietet eine Vielzahl von erweiterten Steuerungs- und Bildgebungsfunktionen. Mit seiner fortschrittlichen optischen Ausstattung kann es Anwendern höchste Bildqualität bieten und wird durch ein ultrastabiles und zuverlässiges nanoskaliges Bildgebungsmodell unterstützt.