Gebraucht JEOL JSM 6490LV #293594823 zu verkaufen

JEOL JSM 6490LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für seine überlegene Bildauflösung, hochauflösende Bildgebung (HRI) und lange Lebensdauer bekannt ist. Es verwendet einen Elektronenstrahl, um Bilder von Proben zu erfassen. Dieses SEM ist komplett automatisiert, mit einer voll integrierten Probenstufe, einem integrierten dualen Detektorsystem und Vakuumsystem. JEOL JSM-6490LV ist ein SEM, das eine Auflösung von bis zu 1 nm liefert und in der Lage ist, dreidimensionale Bilder mit Vergrößerungen bis zu 100.000x zu erzeugen. Es ist für die Abbildung von Dünnschichtmaterialien, Metallen und anderen Materialien optimiert, die eine hochauflösende Bildgebung erfordern. Die präzise Strahlsteuerung und die erweiterten bildgebenden Funktionen in Kombination mit den automatisierten Funktionen machen JSM 6490LV zu einem idealen Werkzeug für Materialcharakterisierungen, Fehleranalysen und Forschungsanwendungen. Die Doppeldetektoren von JSM-6490LV bieten überlegene Empfindlichkeit und Detektion von Sekundärelektronen, rückgestreuten Elektronen und Röntgensignalen. Die Detektoren sammeln Signale aus einem Bereich von Winkeln und bieten eine vollständige Unterbringung von Proben, die eine komplizierte Ausrichtung und multidirektionale Bildgebung erfordern. Die Bilder von JEOL JSM 6490LV bieten einen hervorragenden Kontrast und präzise Details, so dass es ein ideales Instrument für die Fehleranalyse. JEOL JSM-6490LV verfügt über eine vollautomatische Probenstufe, die für lineare und winkelförmige Bewegungen mit einer Auflösung von 0,1 μ m (10 nm) programmierbar ist. Dies ermöglicht es dem Anwender, die Probe schnell und genau neu zu positionieren, was zu einer verbesserten Bildgebung und Analyse führt. Die erweiterte Probennavigation und Positionskontrolle stellen sicher, dass bei jeder Abbildung immer die richtigen Einstellungen auf derselben Probe verwendet werden. Die Probenstufe ist auch mit Umgebungssteuerung und Anti-Vibrations-Optionen ausgestattet, wodurch Bewegungsverzerrungen während der Bildgebung minimiert werden. JSM 6490LV Rasterelektronenmikroskop bietet eine leistungsfähige bildgebende Lösung für eine breite Palette von Materialien Charakterisierung Anwendungen. Es ist ein ideales Instrument für Fehleranalyse, nanoskalige Bildgebung und Forschung. Seine überlegene Auflösung, automatisierte Funktionen und fortschrittliche Dual-Detektoren machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für Laboreinstellungen, die präzise und detaillierte Bildgebungsergebnisse erfordern.