Gebraucht JEOL JSM 6490LV zu verkaufen

Rasterelektronenmikroskope

Hersteller

JEOL

Modell

JSM 6490LV

Soll man verkaufen?

Zum Verkauf einreichen

4 Ergebnisse gefunden

Filter

Alle löschen

4 Ergebnisse

Beliebtes Produkt

Scanning Electron Microscope (SEM) Infrared camera Detectors: Secondary Electron (SE) Backscattered

Finden Sie nicht, was Sie suchen?

Beliebtes Produkt

Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 3.0 nm Includes: (2) CPU (3) APC Back-ups KEITHLEY 4

148

Beliebtes Produkt

Scanning Electron Microscope (SEM) Low vacuum mode High resolution: 3.0 nm With motor stage Asynchro

117

Beliebtes Produkt

Scanning Electron Microscope (SEM) Magnification: 8x to 300,000x Image mode: SEI, BEI, Low vacuum BE

119