Gebraucht JEOL JSM 6490LV #293811638 zu verkaufen

JEOL JSM 6490LV scanning electron microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes Instrument, das in der Materialforschung eingesetzt wird. Es kombiniert die Prinzipien der sekundären Elektronenbildgebung mit hochauflösenden analytischen Fähigkeiten. Dieses Gerät ist mit einer Schottky-Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die einen hochfokussierten Elektronenstrahl für die Transmissions- und Rasterelektronenmikroskopie emittiert. Das FEG hat eine niedrige Spannung, einen hohen Strom und eine extrem geringe Spreizung von Elektronenenergien. Dies ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung im Sub-Nanometer-Maßstab und eine bessere Analyse von Proben. Neben hervorragenden bildgebenden Funktionen ist JEOL JSM-6490LV auch mit einem hochmodernen energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDX) ausgestattet. Diese analytische Komponente ermöglicht die genaue Sammlung von chemischen Zusammensetzungsdaten, einschließlich der auf der Probe vorhandenen Elemente, sowie deren relative Konzentration. Darüber hinaus ergänzt die Verwendung von EDX die bildgebenden Fähigkeiten von SEMs durch zusätzliche Erkenntnisse, die nicht allein in sekundären Elektronenbildern zu sehen sind. Das EDX-System umfasst außerdem einen hocheffizienten fensterlosen Detektor, einen hochsensitiven Mehrkanal-Analysator und ein leistungsstarkes, energiedispersives Röntgenmikroanalyse-Softwarepaket für eine einfache und schnelle Probenanalyse. JSM 6490LV ist auch mit einem Oxford INCA X-Flash EDX Detektor ausgestattet. Dies verbessert die Genauigkeit des EDX-Systems weiter, da es eine geringe Energieempfindlichkeit für Elemente bis Platin und ein hervorragendes Signal-Rausch-Verhältnis bietet. Die Oxford INCA hat auch eine niedrige Zählrate Fähigkeit, die eine detailliertere Analyse von Spurenelementen ermöglicht. JSM-6490LV ist ein sehr vielseitiges SEM mit mehreren Bildgebungsfunktionen. Es kann sowohl in Niederspannungs- als auch in Umgebungs-Rasterelektronenmikroskopie (ESEM) -Modi verwendet werden. Im Niederspannungs-SEM-Modus arbeitet das Mikroskop in einem Spannungsbereich von 0,3 bis 25kV und bietet eine unübertroffene Bildauflösung. Während JEOL JSM 6490LV im ESEM-Modus in der Lage ist, eine breite Palette von Umweltuntersuchungen durchzuführen und Hochvakuum und niedrigen atmosphärischen Druck (bis zu 0,1 mbar) ohne eine dazwischenliegende Vakuumkammer zu erfassen. Insgesamt ist JEOL JSM-6490LV ein hochleistungsfähiges Rasterelektronenmikroskop mit hervorragenden Eigenschaften sowohl für bildgebende als auch analytische Studien. Es eignet sich für eine breite Palette von Forschungsanwendungen, einschließlich Partikelanalyse, morphologische Studien und integrierte Materialanalyse. Darüber hinaus ist JSM 6490LV in der Lage, sowohl in Niederspannungs- als auch in Umgebungs-Rasterelektronenmikroskopie zu arbeiten. Dies macht es zu einem idealen Werkzeug für Forscher, die fortgeschrittene Studien in Materialwissenschaft, Geologie, biomedizinischer Forschung und Nanotechnologie durchführen.