Gebraucht JEOL JSM 6490LV #293800978 zu verkaufen
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JEOL JSM 6490LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für den Einsatz in einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen. Um eine genaue Abbildung von Proben zu ermöglichen, verwendet das Mikroskop sowohl Sekundärelektronen (SEs) als auch rückgestreute Elektronen (BSEs). JEOL JSM-6490LV ist mit einer hochauflösenden und hochvergrößerten Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die eine maximale Beschleunigungsspannung von 30 kV sowie einen hochauflösenden SE/BSE-Detektor mit einer Auflösung von bis zu 1,3 nm ermöglicht. Einzigartig für dieses Mikroskop ist seine Niedervakuum-Betriebsart, die ideal für nichtleitende Proben oder bei erwünschter Beobachtung von NiederkV-Elektronen ist. Dieses Mikroskop ist mit einem robusten automatisierten Mikroskopkörper-Antriebssystem und einem Hochleistungsobjektiv mit großem Durchmesser ausgestattet. Dadurch ist es für Proben bis 200 mm Höhe sowie einen Öffnungswinkel von bis zu 60 ° hochauflösend abbildbar. Darüber hinaus bietet JSM 6490LV ein optionales 5: 1-Sichtfeld, das die Fähigkeit des Systems zur Beobachtung großer Proben erhöht. Die bildgebenden Fähigkeiten dieses SEM reichen über die typische Abbildung von Oberflächeneigenschaften hinaus. Ausgestattet mit einem energiedispersiven Röntgen- (EDX) -Detektor ist dieses Mikroskop in der Lage, chemische, strukturelle und quantitative Elementanalysen für Elemente von Beryllium bis Uran durchzuführen. Dieser EDX-Detektor ist in der Lage, Daten innerhalb weniger Sekunden zu erfassen und detaillierte Analysen durchzuführen, sodass Benutzer eine Fülle von Informationen über ihre Probe sammeln können. Die hohe Auflösung, Vielseitigkeit und automatisierte Scan-Steuerung des Mikroskops macht es auch ideal für die 3D-Rekonstruktion und Tomographie-Bildgebung, die Beobachtungen von Objektmerkmalen in alle Richtungen ermöglicht. Abschließend stellt JSM-6490LV Forschern ein leistungsfähiges und vielseitiges bildgebendes Werkzeug zur Verfügung, das sowohl Nieder- als auch Hochkraftproben in einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen präzise abbilden kann. Die Kombination aus Elektronenkanone, Detektor und automatisierter Scan-Steuerung bietet ein umfassendes System zur Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben, mit dem zusätzlichen Vorteil, dass viele dieser Analysen innerhalb von Augenblicken durchgeführt werden können.
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