Gebraucht JEOL JSM 6490LV #9229495 zu verkaufen

JEOL JSM 6490LV scanning electron microscope (SEM) ist ein hochentwickeltes Instrument zur Bildgebung und Analyse der dreidimensionalen Struktur unterschiedlichster Materialien. Das hochmoderne Design verfügt über eine große 5-Achsen-Bühne, die eine präzise Bewegungssteuerung ermöglicht und große Bereiche mit schnellen Geschwindigkeiten abtastet. Dies macht die 6490LV ideal für allgemeine Materialuntersuchungen und Analysen. Die 6490LV verfügt über eine Elektronensäule mit hoher Elektronenfeldemission und eine große Feldemissionskanone (FEG) von 40.000 bis 90,000V. Die Elektronenoptik umfasst ein Rasterspulenkondensatorsystem, das eine Vielzahl von Kondensatoreinstellungen für optimale Abbildungsbedingungen und Vergrößerungen von 10x bis 15.000x bietet. Für den Betrieb mehrerer Zubehörteile wie Detektoren, Linsen und Probenhalter steht ein breiter wählbarer Arbeitsabstand von 18-60 mm zur Verfügung. Das 6490LV ist mit einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, die eine gleichzeitige Abbildung vieler Arten von Signalinformationen ermöglichen. Dies beinhaltet einen Backscatter-Detektor mit einer Auflösung von 6k x 8k Pixel, um hochauflösende SE-Bilder (sekundäre Elektronen) zu erhalten. Es enthält auch einen hochauflösenden SE1-Detektor, einen hochempfindlichen BSE (Backscattered Electron) -Detektor und einen optionalen EBSD (Electron Backscatter Diffraction) -Detektor zur mikrostrukturellen Charakterisierung. Der leistungsstarke Röntgendetektor ermöglicht es dem 6490LV, Röntgenkarten und Profilkarten für die chemische Analyse zu erzeugen. Es enthält vier Sätze von Detektoren; einen Szintillationsdetektor, einen energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDS) -Detektor, einen Radiopermeatdetektor und ein wellenlängendispersives Röntgenspektrometer (WDX). Die EDS und WDX Detektoren können die elementare Zusammensetzung in hoher Auflösung und Präzision analysieren. Die 6490LV ist mit Benutzerfreundlichkeit im Auge entworfen. Farb-Touchscreen-Panels bieten eine einfache Steuerung der SE/BSE-Detektoren, Spannungseinstellung, Bühneneinstellung und Erfassung von Daten. Eine integrierte Design-Flexibilität ermöglicht es Benutzern, schnell zwischen Umgebungs- und Analysemodus zu wechseln. Abschließend ist das JEOL JSM-6490LV Rasterelektronenmikroskop ein fortschrittliches und vielseitiges Instrument, das eine Vielzahl von Materialien abbilden und analysieren kann. Seine herausragende Elektronenoptik, auswählbare Probenstufen und eine Reihe von Detektoren bieten Anwendern ein umfangreiches Leistungsspektrum und sind somit eine ideale Wahl für Forschung und Analyse.