Gebraucht JEOL JSM 6490LV #9278879 zu verkaufen
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ID: 9278879
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution: 3.0 nm
Includes:
(2) CPU
(3) APC Back-ups
KEITHLEY 487 Picoammeter / Voltage source
KE Infrared chamber scope interface
JOEL MP-05010
Net gear ProSafe 5 Ports
(2) PANASONIC Vacuum pumps
Power cords
(2) Monitors
Power supply: 100 V, 50/60 Hz, 30 A.
JEOL JSM 6490LV ist ein hochpräzises Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in Forschungslabors und Bildungseinrichtungen eingesetzt wird. Es bietet eine breite Palette von Optionen für Vergrößerungen, Auflösungen und Elektronenstrahlen, die die Abbildung von mikro- und nanoskaligen Materialien mit überlegener Qualität ermöglichen. JEOL JSM-6490LV bietet eine hervorragende Auflösung mit der Fähigkeit, Materialien bis zu einer Vergrößerung von 100.000x abzubilden. Es ist mit einer LaB6 Hochspannungselektronenquelle ausgestattet, die einen stabilen und sauberen Elektronenstrahl liefert. Die Quelle liefert extrem niedrige Geräuschpegel und ist in der Lage, Submikron-Elektronenstrahlen Stabilitäten für präzise Strahlmanipulation. JSM 6490LV verfügt über eine Probenkammer, die für die einfache Installation und Entfernung von Proben ausgelegt ist. Mit einem klaren Sucher ist es einfach, Proben schnell zu untersuchen, und die mitgelieferte LED-Probenbeleuchtung macht es einfach, Proben zu erkennen und zu lokalisieren. Das SEM ist zudem mit einer Autofokus-Technologie ausgestattet, die eine automatische Fokussierung und Abtastung von Objekten in der Kammer ermöglicht. Darüber hinaus verfügt JSM-6490LV über eine erweiterte zweiachsige Probenstufe mit einer großen Probenkapazität von bis zu 300 x 300 mm. Es ist auch mit einem ultrapräzisen motorisierten Bewegungssystem ausgestattet, das Genauigkeit, Stabilität und Wiederholbarkeit bietet. Das SEM ist auch in der Lage, Bilder in verschiedenen Modi wie SEM, EDS, CL und stereoskopische Bilder zu erfassen. Schließlich verfügt JEOL JSM 6490LV auch über ein fortschrittliches Sieb- und Filtersystem, das die Genauigkeit des Instruments bei der Abbildung einer Vielzahl von Materialien verbessert. Es hat sowohl digitale als auch analoge Signalausgänge und ist mit integrierter Software zur Steuerung der Elektronenoptik und der Probenanalyse ausgestattet. Mit seinem robusten Design und seinen fortschrittlichen Fähigkeiten ist JEOL JSM-6490LV ein ideales Instrument für eine Reihe von werkstoffwissenschaftlichen Forschungs- und Entwicklungsanwendungen.
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