Gebraucht JEOL JSM 6490LV #9293317 zu verkaufen

JEOL JSM 6490LV ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es basiert auf einer Dual-Strahl-Technologie-Plattform bestehend aus einer Elektronenkanone, einer Säule und einer Vielzahl von Detektoren. Die Elektronenkanone ist eine thermische Lichtbogenkathode, die Elektronen mit einer Landeenergie von 0,5 keV und maximaler Leistung bei 25 keV emittieren kann. Die den Elektronenstrahl richtende Säule ist eine 100 kV variable Stufe mit einer maximalen Beschleunigungsspannung von 30 kV. Die einzigartige Niederspannungsfunktion dieser Spalte ermöglicht die höchste Auflösung der Bildgebung für Proben und ermöglicht gleichzeitig die größte Flexibilität bei Bildern. JEOL JSM-6490LV verfügt auch über eine breite Palette von bildgebenden Funktionen, wie sekundäre und rückstreuende Bilder für Standard-SEM-Anwendungen sowie fortgeschrittene Anwendungen wie Wellenlängen-Dispersionsspektrometrie (WDS), energiedispersive Spektrometrie (EDS) und Elektronenmikrosondenanalyse (EPMA). Mit EDS kann der Benutzer elementare Informationen aus Proben erhalten, indem er Röntgenstrahlen detektiert, die von der Probe emittiert werden, wenn sie mit einem Elektronenstrahl bombardiert werden. JSM 6490LV ist mit einer voll motorisierten Probenstufe, einer motorisierten Mini-SEM-Stufe und einer motorisierten XYZ-Stufe ausgestattet. Mit einer Vielzahl von Objektiven zur Auswahl, kann der Benutzer Proben mit einer Vergrößerung von 10x bis 700.000x beobachten. Es enthält auch ein automatisiertes Pixelgrößenanpassungssystem für verbesserte Bildauflösung. Eine Vakuumpumpe ist im Lieferumfang des Systems enthalten, um sicherzustellen, dass die Probenkammer stets im Hochvakuum gehalten wird. Dies ermöglicht hochauflösende Abbildungs- und Spektroskopieexperimente mit minimaler Probenstörung. JSM-6490LV kann auch mit einer Vielzahl von Manipulatoren, wie einem elektrostatischen Linsenrevolver, Apertur, Vergrößerung und Ablenkung manipuliert werden, was eine Feinpositionskontrolle des Elektronenstrahls ermöglicht. Insgesamt ist JEOL JSM 6490LV ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das für hochpräzise, ultrahochauflösende Bildgebungs- und Spektroskopieanwendungen entwickelt wurde. Es verfügt über ein vielseitiges Doppelstrahl-Design, eine Vielzahl von leistungsstarken Detektoren, eine voll motorisierte Probenstufe, eine Reihe von Objektiven und eine Vakuumpumpe für eine effiziente Probenverarbeitung. Die integrierte Software macht es einfach zu bedienen und bietet eine breite Palette von Einstellungen, um die bildgebende oder spektroskopische Leistung an die genauen Bedürfnisse des Benutzers anzupassen.