Gebraucht JEOL JSM 7401F #293750575 zu verkaufen

JEOL JSM 7401F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das gut für die hochauflösende Probenbildgebung und -analyse ausgestattet ist. Mit einer maximalen Vergrößerung von bis zu 400,000X ist dieses Instrument ein leistungsstarkes Werkzeug zur Auflösung mikroskopischer Strukturen vieler unterschiedlicher Materialien. JEOL JSM-7401F bietet qualitativ hochwertige Bildgebung mit ultrahochem Vakuum und niedrigem Vakuum-Modus, so dass es sehr detaillierte Bilder und spektroskopische Daten von organischen und anorganischen Proben erzeugen kann. Das SEM verfügt über eine Feldemissionskanone Elektronenquelle, die in Verbindung mit seiner FEG-Linse verbessert die Qualität der Bilder und reduziert die Kosten pro Scan. Mit einer großen Stufe eignet sich dieses Instrument ideal zur Abbildung großer Probenflächen und zum schnellen Abtasten von Proben. Es verfügt über mehrere Abbildungsmodi, einschließlich sekundärer Elektronenbildgebung, rückgestreuter Elektronenbildgebung und sogar Kathodolumineszenzbildgebung. Das SEM ist auch in der Lage, die Wellenlängendispersive Spektroskopie (WDS) und die Energiedispersive Spektroskopie (EDS) je nach Bedarf des Benutzers durchzuführen. Neben seinen bildgebenden Funktionen verfügt das SEM auch über ein Navigationssystem, mit dem der Benutzer schnell durch große Beispielbereiche navigieren kann. Dieses Navigationssystem kann dabei helfen, verschiedene Interessengebiete wie Fehler, Defekte oder auch das Vorhandensein bestimmter Elemente in der Probe zu finden. Das Instrument ermöglicht es Benutzern auch, ihre Bildergebnisse in einer Vielzahl von Formaten zu speichern und auszuwerten, was einen einfacheren Datenvergleich über mehrere Scans derselben Proben ermöglicht. Der sem verfügt über einen integrierten PC mit großer Speicherkapazität, der eine einfache Datenverwaltung und Sortierung ermöglicht. Darüber hinaus ist das Instrument auch kompatibel mit Windows OS für erweiterte Datenmanipulationsfunktionen. Zusammenfassend ist JSM 7401 F ein hochentwickeltes und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das für die Abbildung vieler verschiedener Probentypen geeignet ist. Mit erweiterten Bildgebungsfunktionen, einer großen Stufe, einer hohen Bildauflösung und ausgezeichneten Datenverwaltungsoptionen ist dieses Instrument ideal für die Auflösung mikroskopischer Funktionen bei den höchsten verfügbaren Vergrößerungen.