Gebraucht JEOL JSM 7401F zu verkaufen

Rasterelektronenmikroskope

Hersteller

JEOL

Modell

JSM 7401F

Soll man verkaufen?

Zum Verkauf einreichen

2 Ergebnisse gefunden

Filter

Alle löschen

2 Ergebnisse

Beliebtes Produkt

Scanning Electron Microscope (SEM) SM 34080 Lower detector device SM 36120 In-column faraday cup SM

Finden Sie nicht, was Sie suchen?

Beliebtes Produkt

Scanning Electron Microscope (SEM) Usage time: 20 years No EDS No BSE detector Infrared camera.