Gebraucht JEOL JSM 7401F #293751819 zu verkaufen

JEOL JSM 7401F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) von JEOL. JEOL JSM-7401F ist eine Feldemissionskanone SEM, die in der Lage ist, detaillierte Bilder von Materialien in hoher Auflösung zu erfassen. Dieses fortschrittliche SEM nutzt Hochleistungs-Feldemissionstechnologie und kombiniert eine Gun High Tension (GHT) Stromversorgung, einen Elektronenenergieselektor und eine Debri-sichere Kammer für überlegene Bildgebung. JSM 7401 F bietet hochauflösende Sekundärelektronen (SE) Bildgebung und Kathodolumineszenz (CL) Abbildung mit hoher Auflösung, Niederspannung Abbildung von Proben so dünn wie 50 nm. Es bietet auch eine hochauflösende Anzeige von 0,6 nm bei 15 kV mit ausgezeichnetem Kontrast und Auflösung. Für überlegene Bildgebung verwendet JSM-7401F eine hohe Standard-5-Mikron-Spotgröße mit einer 5-Mikron-chromatischen Aberrationskorrekturausrüstung (CAC). Darüber hinaus ermöglicht das erweiterte SEM einen breiteren Dynamikbereich für die Abbildung von angelegten Feldern mit niederenergetischen Sekundärelektronen. JSM-7401 F verfügt außerdem über ein leistungsstarkes Multi Beam Interface (CMBI) -System und ein mehrachsiges Steuerungsteleskop. Dadurch kann der Anwender für jedes Material und jede Anwendung geeignete bildgebende Bedingungen optimieren. Darüber hinaus bietet die Multi Beam Interface-Einheit Live-Videoscanner, die ein schnelles Scannen ohne Bildunschärfe ermöglichen. JEOL JSM 7401 F ist benutzerfreundlich gestaltet und verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, die vollständig konfigurierbar ist. Diese Schnittstelle macht die Verwendung des SEM einfacher und einfacher zu erlernen. Darüber hinaus unterstützt das SEM eine Reihe von Steuerungsprotokollen, einschließlich Ethernet, VME und CAN. Um eine hervorragende Bildgebung und Leistung zu gewährleisten, ist JEOL JSM-7401 F mit erweiterten Funktionen wie einem Autofokusstabilisierungsmechanismus, einer Strahlprofilsteuerungsmaschine und einem Seitenbeleuchtungsmodul ausgestattet. Diese Funktionen helfen Benutzern, den Strahl genau zu fokussieren und Bilder von Proben mit verbessertem Kontrast und Auflösung zu erhalten. Insgesamt ist JSM 7401F ein vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das sich für eine Vielzahl von Materialien und Anwendungen eignet. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder bei niedriger Spannung, Hochleistungs-Bildgebung von Proben so dünn wie 50 nm, und erweiterte Funktionen, die helfen, die bestmögliche Bildgebung zu gewährleisten.