Gebraucht JEOL JSM 7401F #9147359 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9147359
Field emission scanning electron microscope (FE-SEM)
Resolution: 1.0nm (15kV), 1.5nm (1kV)
Magnification: 25x to 1,000,000x
Accelerating voltage: 0.1 to 30 kV
Probe current: 10^-13 to 2×10^-9 A
Electron gun: Cold field emission electron gun (Tungsten single crystal emitter)
Objective lens: Strongly excited low aberration conical lens
(3) Electron detectors:
Upper secondary electron in-lens detector (SEI)
Lower secondary electron detector (LEI)
Retractable backscattered electrons detector (RBEI)
IR Camera
Specimen chamber:
Diameter: 8"
Airlock type: 150 (Diameter) × 10 (Height) mm specimen holder
Specimen stage: Eucentric gioniometer stage
3-Axis computer controlled:
X-Y: 70×50mm
Rotation R: 360º
Manual handling of Z-axis: 1.5 up to 25mm
Tilt: -5° up to +70°
Specimen holders:
12.5 (Diameter) × 10(Height) mm
26 (Diameter) × 10(Height) mm
Wafer holders, 3"-4"
STEM Holder
Image process:
2/4 Divided display
Pseudo color
Image processing function (Sharpen, Gaussian, Smooth, Laplacian etc.)
Operating system: Windows XP
Supported image file formats: BMP, JPEG, TIFF
Vacuum system:
(3) Sputter ion pump units for Pgun~10-8Pa
DP-DP Series system
Fore-line trap for P specimen chamber ~ 10-5Pa
Oil rotary pump
2006 vintage.
JEOL JSM 7401F ist ein in der angewandten Forschung gebräuchliches Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es ist bekannt für seine hochwertige Bildgebung, präzise Probenanalyse und genaue Messungen. Dieses Rasterelektronenmikroskop zeichnet sich durch seine hohe Auflösung aus und ermöglicht Vergrößerungen bis zu 200.000x. JEOL JSM-7401F enthält Funktionen wie eine Feldemissionskanone (FEG) für hohe Beschleunigungsspannung, die einen stabilen Strahl erzeugt und eine genaue Bildgebung und Analyse ermöglicht. Es enthält auch zwei Detektoren - den Sekundärelektronendetektor und den rückgestreuten Elektronendetektor -, die die Wechselwirkung zwischen dem Elektronenstrahl und der Probe messen. Dies ist als analytische Bildgebung bekannt und ist ein leistungsfähiges Werkzeug für die vertiefte Forschung. JSM 7401 F verwendet einen Röntgendetektor für die Spektrometrie, eine Technik, die für die Elementaranalyse verwendet wird. Dies hilft, Elemente in der Probe zu identifizieren und die Atomzusammensetzung zu bestimmen. Röntgendetektor ermöglicht auch Röntgenzeilenscannen, Punktanalyse und EDX-Mapping - alles verwendet, um chemische Verteilungen zu visualisieren. Für die Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahme enthält JEOL JSM-7401 F mehrere Bildaufnahmekomponenten. Es ist mit einer hochauflösenden CCD-Kamera ausgestattet, die digitale Bilder mit minimalem Rauschen erzeugt. Die Funktion „High Defocus“ verbessert die Bildqualität bei höheren Vergrößerungen und schnelle Scantechniken können verwendet werden, um dreidimensionale Bilder zu erzeugen. Neben den bildgebenden und analytischen Fähigkeiten ist JSM-7401 F auch für seine hochpräzise Stufensteuerung bekannt. Es hat drei motorisierte Freiheitsgrade und kann mit seinem großen Fahrbereich eine Reihe von Probengrößen verarbeiten. Proben können auch mit den hochauflösenden Steuerelementen gedreht und fokussiert werden. JSM 7401F ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop und kann für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden. Es kann verwendet werden, um die Oberfläche einer Probe auf Defekte zu untersuchen oder die Zusammensetzung und Struktur eines Materials zu analysieren. Durch die Kombination einer Reihe von Analysetechniken mit seiner hochwertigen Bildgebung erzielt JSM-7401F präzise Ergebnisse mit minimalem Aufwand.
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