Gebraucht JEOL JSM 7401F #9206955 zu verkaufen

JEOL JSM 7401F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Abbildung und Charakterisierung von Probenmaterialien ermöglicht. Dazu wird ein fokussierter Elektronenstrahl verwendet, der über die Probe gescannt wird. Die abgetasteten Elektronen interagieren mit dem Material, um ein Signal zu erzeugen, das zum Aufbau eines Bildes verwendet werden kann. Je nach Art des zu analysierenden Probenmaterials arbeitet das SEM entweder im Hochvakuum oder in einer Hochdruckumgebung. Der Hochvakuum-Modus erzeugt eine rauscharme Umgebung, um die Auflösung der Bildgebung und Charakterisierung zu verbessern. Im Hochdruckbetrieb ist eine Probenumgebung mit einem Druck bis 7 MPa vorgesehen, um verschiedene Phänomene wie Verformung und Zersetzung von Materialien zu induzieren. JEOL JSM-7401F wird auch mit einer elektronenoptischen Säule geliefert, die einen Rasterelektronenstrahl mit einer minimalen Punktgröße von 0,5 nm zur Maximierung der Bildauflösung bereitstellt. Darüber hinaus enthält es einen In-Column Gun Changer, der den Austausch unterschiedlicher Elektronenkanonen, wie z.B. einer Feldemissionskanone (FEG), für eine Vielzahl von Anwendungen ermöglicht. Das SEM ist mit einem Hochgeschwindigkeits-Plattensystem gebaut, das eine hochpräzise XY-Bühne mit einer maximalen Scanfläche von 100x100mm hat, was es ideal für die schnelle Abbildung großer Flächen macht. Die Strahlbeschleunigungsspannung des Systems kann von 0,5-30 kV und sein Strahlstrom von 0,2-50 nA reichen. Das System ist auch mit einem dedizierten Signalprozessor ausgestattet, der Signaldaten bis zu 10 Giga Pixel pro Sekunde erfassen kann. JSM 7401 F ist computergesteuert, mit einer integrierten benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche zur Verbesserung der Benutzerzugänglichkeit. Alle zugehörigen Abbildungs- und Signalverarbeitungs-Steuerparameter können über die Schnittstelle angepasst werden, einschließlich Detektions- und Messoptionen, um verschiedene Materialparameter zu analysieren. Schließlich verfügt JSM 7401F über Softwarepakete, die viele analytische und analytische Funktionen ermöglichen, darunter topographische Bildgebung, Kompositionsbildgebung, Elementaranalyse und 3D-Modellierung. Dieses SEM ist ein vielseitiges Instrument, das auf verschiedene Bereiche wie Materialwissenschaft, Naturwissenschaft und Halbleiter angewendet werden kann.