Gebraucht JEOL JSM 7401F #9229628 zu verkaufen

JEOL JSM 7401F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), entworfen und hergestellt von JEOL, das einen Elektronenstrahl verwendet, um hochauflösende Bilder der Oberfläche einer Probe zu erzeugen. Die Hauptkomponente des SEM ist die Elektronenkanone, die aus einem Filament besteht, das Elektronen emittiert, einer Anode und fokussierenden Elementen, die die Elektronen beschleunigen und in einen Strahl fokussieren. Anschließend wird der Strahl auf die Probe gerichtet und die reflektierten Elektronen zu einem Bild gesammelt. JEOL JSM-7401F verfügt über eine hochwertige Elektronensäule, die eine stabile Leistung während des bildgebenden Prozesses erreichen kann. Es weist außerdem einen energiedispersiven Spektroskopie (EDS) -Detektor auf, der die Energie der erzeugten Elektronen detektieren kann. Der EDS-Detektor ermöglicht es dem Anwender, zwischen den verschiedenen Elementen in einer Probe zu unterscheiden, was für die Materialanalyse nützlich ist. JSM 7401 F verfügt über mehrere Funktionen, die es sowohl für Forschung als auch für Entwicklungsanwendungen geeignet machen. Eines dieser Merkmale ist die hochauflösende Bildgebung (bis 0,5 nm), mit der sowohl Oberflächen als auch innere Strukturen detailliert untersucht werden können. Das SEM weist außerdem einen Niedrigvakuummodus auf, der es dem Anwender ermöglicht, bei niedrigerem Vakuumniveau zu arbeiten, was die Untersuchung von nichtleitenden Materialien bei relativ schnellen Geschwindigkeiten ermöglicht. Neben den Abbildungsfähigkeiten weist das SEM auch eine sogenannte variable Druckabbildung auf. Dadurch können die Betriebsbedingungen vom Hochvakuum auf niedrige Vakuumwerte geändert werden und die Elektronen können dann weiter in die Probe eindringen, bevor sie reflektiert werden. JSM-7401F ist auch benutzerfreundlich gestaltet. Das SEM verfügt über eine Digitalkamera und ein Display, das es dem Benutzer ermöglicht, Proben während des Scanvorgangs einfach zu überwachen. Das SEM verfügt zudem über eine automatisierte Stufe, die eine präzise Probenpositionierung und -scannung ermöglicht. Insgesamt ist JEOL JSM 7401 F ein sehr vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das sich für eine Vielzahl von Anwendungen in der Elektronenmikroskopie, Materialanalyse und Oberflächenstudien eignet. Es verfügt über hervorragende bildgebende Funktionen und Funktionen, die für einen effizienten und zuverlässigen Betrieb ausgelegt sind.