Gebraucht JEOL JWS 7500E #293616492 zu verkaufen

JEOL JWS 7500E
ID: 293616492
Wafer inspection system.
JEOL JWS 7500E ist eine Version der nächsten Generation des Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskops JEOL JWS Serie (SEM). JWS 7500E verfügt über eine hohe elektronenoptische Leistung und eine Reihe modernster Fähigkeiten sowohl für Forschung als auch für industrielle Anwendungen. Dieses SEM verwendet eine elektrostatische Flachfeld-Objektivlinse, um eine überlegene Bildqualität und hohe Auflösung zu erreichen. Das leistungsstarke Energiefiltersystem ermöglicht eine präzise Elementaranalyse. JEOL JWS 7500E ist mit einer High-End-Hochspannungselektronenquelle ausgestattet, die eine ausgezeichnete Hochspannungsstabilität, Niedervakuum-Hochauflösung und hochenergetische selektive Bildgebung und Spektroskopie über eine breite Palette von beschleunigenden Spannungen bietet. JWS 7500E verfügt über eine automatische stereotaxische Probenphase mit mehrfacher Reglerunterstützung, die sowohl motorisierte als auch manuelle Operationen unterstützt und eine schnelle und genaue Probenplatzierung ermöglicht. Dieses SEM verfügt auch über ein Hochdurchsatz-Softwarepaket zur automatisierten Datenerfassung, einschließlich Mapping und Charakterisierung. Darüber hinaus ermöglicht der große Dynamikbereich des SEM eine hervorragende kontrastreiche Bildgebung, auch bei harten Proben. JEOL JWS 7500E kann Bilder in einer Vielzahl von Modi und Auflösungen aufnehmen, einschließlich SE, BSE, WDX, EBIC, STEM, SED und HAADF, wodurch das SEM für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. JWS 7500E wird auch mit einem Energiefiltersystem, und fakultativem Energie-Dispersive Röntgenstrahl (EDX) und Elektronrückstreuungsbeugung (EBSD) Entdecker ausgestattet. Das fortschrittliche offene Architekturdesign von JEOL JWS 7500E ermöglicht zukünftig weitere Upgrades. Für Industrie- oder Produktionsanwendungen bietet JWS 7500E optionale Hochgeschwindigkeits-Probenbeladung und automatisierte Fehlererkennungssysteme zur zerstörungsfreien Probenuntersuchung. Der SEM bietet auch eine Hochgeschwindigkeitsscanumwandelnweise für die 2D-Bildaufbereitung der weit reichenden und 3D Bildaufbereitung von großen Proben an. JEOL JWS 7500E bietet Spitzenleistung und Funktionsset und ist damit die ideale Wahl für Industrie-, Forschungs- oder Produktionsanwendungen.
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