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JEOL JWS 7500E
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JEOL JWS 7500E #9223533
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JWS 7500E

Scanning Electron Microscope (SEM) Wafer stuck inside Optics need to be replaced.
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JEOL JWS 7500E #9224662
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JWS 7500E

Wafer inspection Scanning Electron Microscope (SEM), parts machine NORAN EDX included.
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JEOL JWS 7500E #9299482
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JWS 7500E

Wafer inspection system, 8".
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JEOL JWS 7500E #293616492
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Wafer inspection system.
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