Gebraucht JEOL JWS 7500E #9223533 zu verkaufen

ID: 9223533
Scanning Electron Microscope (SEM) Wafer stuck inside Optics need to be replaced.
JEOL JWS 7500E ist ein anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Forschern helfen soll, Proben auf atomarer und nanoskopischer Skala zu beobachten und zu analysieren. Das Mikroskop verwendet einen Rasterelektronenstrahl, um Proben zu beleuchten und zu vergrößern. Mit einer Kombination aus digitaler Bildgebung und Interaktionstechniken können Forscher detaillierte Bilder und 3D-Oberflächenrenderings mit dem Mikroskop erhalten. JWS 7500E verwendet eine Hochleistungs- 40kV Feldemissionselektronenkanone (FEG), um einen Elektronenstrahl zu erzeugen, der dann durch eine elektromagnetische Linse beschleunigt und in eine Ebene fokussiert wird. Dieser beschleunigte Elektronenstrahl wird dann über die Probe abgetastet, um ein Bild mit einem als sekundäres Elektronenbild (SEI) bezeichneten Abtastmodus zu erzeugen. JEOL JWS 7500E hat auch die Fähigkeit, reflektierte oder sekundäre Elektronen zu detektieren, die ein Bild höherer Auflösung mit höherer Tiefeninformation erzeugen können. Das Mikroskop hat auch die Fähigkeit, rückgestreute Elektronen (BSE) Bildgebung zu verwenden, so dass Forscher Proben mit höherem Kontrast beobachten können. Neben der Erstellung von Bildern ist JWS 7500E auch mit einem energiedispersiven Spektroskopie (EDS) -Analysator ausgestattet, um elementare Zusammensetzungen von Proben zu detektieren. Dies kann Forschern wertvolle Informationen über die Probenzusammensetzung liefern, so dass sie Elemente und Verbindungen in der Probe genauer identifizieren können. JEOL JWS 7500E ist auch mit kryogenen Aufbereitungssystemen kompatibel, so dass Proben bei Temperaturen bis -200 ° C betrachtet und analysiert werden können. Dies ermöglicht es Forschern, Proben in ihrem wahren Zustand zu beobachten und Änderungen aufgrund der Probe zu beseitigen, die auf Veränderungen in der Umgebung reagiert. Insgesamt ist JWS 7500E ein extrem leistungsfähiges Rasterelektronenmikroskop, das sich sowohl für die nanoskopische Bildgebung als auch für die Elementaranalyse eignet. Seine breite Palette von Fähigkeiten und seine Kompatibilität mit kryogenen Systemen ermöglichen es Forschern, detaillierte und genaue Bilder von Proben auf atomarer Ebene zu erhalten.
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