Gebraucht JEOL JWS 7500E #9224662 zu verkaufen

JEOL JWS 7500E ist ein für die hochauflösende Bildgebung optimiertes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es bietet eine breite Palette von Optionen zur Verbesserung der bildgebenden Funktionen und bietet genaue Messungen, die reproduzierbar sind. Dieses Rasterelektronenmikroskop ist mit einer leistungsstarken formkorrigierten Objektivlinse und einer automatisierten Bühne ausgestattet, um eine höhere Genauigkeit und eine höhere Kontrastabbildung zu ermöglichen. JWS 7500E verfügt über eine integrierte Strahlausrichtung, die eine genaue Strahlplatzierung gewährleistet. JEOL JWS 7500E bietet ein integriertes Scansystem, das Bilder mit einer Auflösung von bis zu 2 nm bereitstellen kann. Die Einheit verfügt außerdem über eine zusätzliche Feldemissionselektronenquelle zur Bildgebung höherer Auflösung. Diese Maschine ist in der Lage, Elektronendetektionen schnell abzutasten und kann eine Vielzahl von Partikeln wie organische Verbindungen und nichtmetallische Objekte verarbeiten. Ein weiteres Merkmal von JWS 7500E ist der Elektronen-Rückstreukanal, der Kontrast und Tiefenwahrnehmung liefern kann. JEOL JWS 7500E ist mit einem Manipulator ausgestattet, der es dem Benutzer ermöglicht, schwer zugängliche Proben zu handhaben, um sicherzustellen, dass die Probe während der Analyse nicht beschädigt wird. Der Manipulator kann eine Vielzahl von Probengrößen und -formen aufnehmen, einschließlich Dreh- und Kippfähigkeit. Die automatisierte Probenstufe bietet zudem eine konsistente und wiederholbare Umgebung für Beobachtungen und Messungen. JWS 7500E bietet auch ein erweitertes Softwarepaket zur Bildverarbeitung an, mit dem der Benutzer verschiedene Parameter eines Bildes analysieren kann. Dieses Paket ist in der Lage, Fläche und Volumen zu messen, Partikel zu zählen und Objekte nach Farbe und Textur zu segmentieren. Das Softwarepaket verfügt auch über 3D-Rekonstruktionsmöglichkeiten, die Ingenieuren weitere Details und Klarheit von bearbeiteten Bildern bieten können. Das optionale Softwarepaket von JEOL JWS 7500E kann auch eine Reihe integrierter Analysetechniken anbieten. Dazu gehören die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS), die Röntgenmikroanalyse und die Kathodolumineszenz (CL). Diese Techniken helfen, die bildgebende Auflösung zu verbessern und liefern wertvolle chemische Informationen für die weitere Analyse. JWS 7500E ist ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende Bildqualität und unglaubliche Haltbarkeit bietet. Zusätzlich zu seinen erweiterten bildgebenden Funktionen bietet es auch eine Reihe von analytischen Techniken, um dem Benutzer zu helfen, nützlichere Informationen aus seinen Proben zu erhalten. JEOL JWS 7500E bietet ein wertvolles Werkzeug für verschiedene Anwendungen wie Materialforschung, Halbleiter- und Elektronikstudie und biomedizinische Forschung.